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模拟电路性能退化型故障诊断方法研究_马翔楠
27 1 Vol. 27 No. 1
32 JOURNAL OF ELECTRONIC MEASUREMENT AND INSTRUMENT 2013 1
DOI: 10.3724/SP.J.1187.2013.00032
*
( 310027)
: , ,
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7.76%,
: ; ; ; ;
+
: TP306 .3 : A : 510.10
Research on degraded fault diagnosis method for analog circuit
Ma Xiangnan Xu Zhengguo Wang Wenhai Sun Youxian
(Zhejiang University, Hangzhou 310027, China)
Abstract: To diagnosis degraded fault for linear analog circuits, through constructing a comparison circuit, a new fault
dictionary based on voltage sensitivity analysis of node is established. Then fault localization and fault parameter identifi-
cation are realized for multiple faults case. The fault components can be localized and identified by analyzing the voltages
of available test-points. The simulation results demonstrate that the average error of fault parameter identification is
7.76% , and the effectiveness of the proposed approach is verified.
Keywords: analog circuit; fault diagnosis; sensitivity; decomposition method; degradation
[9-12], ,
1
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20 60 Berkowitz[1] ,
, ,
, ,
, Tadeusiewicz ,
[2-5] [6-8]
: [10]
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