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第33卷，第2期 光谱学与光谱分析 Vbl．33，No．2，pp316—319 2O1 3年2月 and S江)ectroscopyS；pectralAmlysis February，2013 基于有限立体角测量的多光谱测温 辛成运，程晓舫’，张忠政 中国科学技术大学热科学和能源工程系，安徽合肥230027 摘要辐射测温以Pl锄ck定律为基础通过测量物体表面的发射辐射来反演温度。推导了有限立体角辐射 测量条件下的单色测温方程，发现多光谱辐射测温能够实现温度和光谱发射率同时求解通常需满足特定的 辐射测量条件：进行微元立体角辐射测量或仅针对漫发射体的有限立体角辐射测量。引人多项式发射率模 型，经过数学转化，可以摆脱以上测量限制，得到具有测量普适性的单色测温方程，但却不一定能同时测量 光谱发射率。对测温方程组的多解问题进行了初步研究，提出使测量通道数大于待求变量数及采用非线性 最小二乘来解决此问题。 关键词定向光谱发射率；辐射测温；多波长测温；多光谱测温 中图分类号：C1432．1文献标识码：A Dm：10．3964／j．issm1000-0593(2013)02一0316一04 料光谱发射率同时求解或仅实现温度的封闭求解对辐射测量 引 言 来说都是有条件的。 本工作推导了有限立体角测量条件下的单色辐射测量方 辐射测温[11]以Planck定律为基础通过测量物体表面的程，并以此为基础得出了多光谱辐射测温能够实现温度和材 发射辐射来反演温度，而物体表面发射辐射具有光谱性质复 料光谱发射率同时求解的两种测量条件：①进行微元立体角 杂性和方向性质复杂性。定向光谱发射率e(A，T，伊，拳，p的辐射测量，即远距离测量；②仅针对漫发射体的有限立体角 引入，将表面发射辐射的光谱性质和方向性质的复杂性归于 辐射测量。同时，基于测温方程的数学转化，发现采用多项 定向光谱发射率的光谱性质和方向性质的复杂性。定向光谱 式发射率模型可以在有限立体角测量条件下，实现非漫发射 发射率￡(A，T，口，jl，p的定义为 体表面真温的测量，但不能实现定向光谱发射率的同时求 (1) 解，而指数多项式发射率模型却不具有此功能。 e(A，T，口，乒，p=Jt(A，T，口，声，p／凡(A，了’) 其中，L(A，T，毋，拳，p是实际物体表面的定向光谱辐射强 度，Je(A，D是黑体光谱辐射强度。根据PlaIlck定律[8]1基于有限立体角的辐射测量方程 …一 C1／兀 … “u一卜承面冠荔丽丽 皑) 辐射测量必然涉及两个方面：①被测目标向测温仪器入 其中，Cl和G分别为第一辐射常数和第二辐射常数。 瞳的辐射传输；②辐射在测温仪器内的衰减和光电转换。 依据(1)式和(2)式进行辐射测温，必然涉及两个基本层 1．1辐射传输 面：一是建立测量信号值与被测物体表面定向光谱辐射强j。 由被测物体表面微元dA所见到的测温仪器光学成像透 (A，T，口，拳，p之间的函数关系，即建立辐射测量方程；二镜所张的有限立体角为△∞，采用球坐标系，△山所覆盖的空 是知晓定向光谱发射率e(．；I，T，口，乒，p的数值或构建出其间区域为(凹，鄙)，围绕△∞内的任意方向(口，’I)的微元立体 函数形式并通过多通道辐射测量来实现待定系数和温度的封 角可写为dcc，=si删，该方向上从被测目标到光学成像透 闭求解。多光谱辐射测温睁”]在一个测温仪器中制成多个光 镜的辐射传输距离设为L(8，声)。假设A是吸收介质的窗口 谱通道来测量物体表