手动多功能椭圆偏振测厚仪等设备采购挂网.doc-实验室及设备管理处.doc

重庆大学手动多功能椭圆偏振测厚仪等设备采购 我校拟采购手动多功能椭圆偏振测厚仪等设备一批，相关要求如下 序号 仪器设备名称 技术参数 单位 数量 备注 1 手动多功能椭圆偏振测厚仪 1.测量薄膜厚度范围：1nm-300nm；折射率范围：1-10测量最小值：1nm 入射光波长：632.8nm 光学中心高：80mm允许样品尺寸：10-Φ140mm，厚度1mm 5.偏振器方位角范围：0°- 180°读取分辨率为0.05°测量膜厚和折射率重复性精度分别为：±0.5nm和±0.005 入射角连续调节范围：20°- 90°精度为0.05°CPU: 酷睿i3，3.0GHz，三级缓存3MB， 显卡：ATI 8350，1G独显，4GB内存500G硬盘DVD光驱，有线鼠标，有线键盘，VGA\DVI双输出接口。 打印机:HP黑白激光打印机 套 2 2 自动椭圆偏振测厚仪 1、测量透明薄膜厚度范围-4000nm，折射率1.30-2、起偏器、检偏器、1/4波片刻度范围0°-360°3、测量精度：±2nm4、入射角160mm； 6、软件：用户权限设置；多个测量项目；多种测量方式；多种数据分析方法；椭偏数据理论计算及显示；测量数据 的分析、计算、输出。 7.上位机：品牌机，CPU: 酷睿i3，3.0GHz，三级缓存3MB， 显卡：ATI 8350，1G独显，4GB内存，500G硬盘，DVD光驱 有线鼠标，有线键盘，VGA\DVI双输出接口。 8、打印机：HP黑白激光打印机。 9、干燥箱1台，101-1B，内胆：不锈钢350*450*450，电热恒温鼓风型，功率1.5kw。 10、小冰箱1台，94L，70W，470*440*820。 套 1 3 手动光栅单色仪0-800nm；焦距500nm；D/F=1/7；光栅1200L/mm，40*40，250闪耀波长；波长准确度0.4nm；波长重复性0.2nm；狭缝0-2mm连续可调，示值0.01mm/格。 台 2 4 阿贝折射仪 折射率nD测量范围：1.3000-1.7000；蔗糖溶液质量分数(锤度Brix)测量范围：0-95%；糖量浓度(%)最小分度值： 0.5 折射率nD准确度：≤±0.0002；锤度(Brix) 准确度：≤±0.1%；温度显示范围(最小示值0.1℃)：0-50℃；仪器重量：10kg；外形：330mm×180mm×380mm；另配：1）4块玻璃块标准件； 2）卤钨灯、钠光灯管、汞灯灯管各4。 台 2 5 测微目镜 20X，测量范围0-8mm，精度0.01mm，内标尺 个 4 6 半导体泵浦固体激光综合实验 一、、1、热释电探测器光谱响应特性实验；2、硅光电二极管光谱响应曲线测试实验；3、幅频法测量光敏电阻响应速度实验；4、脉冲法测量光电二极管响应速度实验；5、偏置电压对光电二极管响应速度影响测试实验；6、负载电阻对光电二极管响应速度影响测试实验；7、光电倍增管的光照灵敏度验证实验；8、测量光电倍增管在无光照射情况下的暗电流实验；9、测量光电倍增管工作的光电特性与伏安特性曲线 实验；10、观察负载对伏安特性曲线影响实验；11、光电倍增管响应速度测量实验。 二、技术参数 1.光源组件：白光源：150W卤素光源，亮度连续可调。 2.光学调制盘组件：镂空圆形结构，25Hz定频调制。 3.探测器组件：光谱响应特性测试电源：25Hz调制盘驱动，检频输出，精密信号放大电路增益150倍；探测器时间响应测试电源：含硅光二级管、光敏电阻测试，负载电阻可变100Ω～100kΩ，偏置电压可调5V～15V，内置正弦信号/ 脉冲信号，频率可调；光电二极管：响应波长400nm～1100nm； 热释电探测器：响应波长0.3μm～9μm ；单色仪：精度0.2nm，光谱范围400nm～1100nm。 4.光电倍增管控制器：包含高压调节驱动模块、各种负载电阻、电流/电压变化模块、光源光强调节装置、信号频率调节装置。 5.光电倍增管:侧窗式，光谱范围：185～900nm；最大相应波长：400nm，阴极最小有效尺寸：24×8mm，倍增极系统结构：环形聚焦（9级），阳极脉冲上升时间：2.2ns，暗电流50nA,高压模块工作电压：1000V。 6.光学组件：红外滤光片，Φ25.4mm，带宽720nm～2500nm。 7.电控旋转台：电控台垂直板1个，尺寸L300×100×100； 电控旋转台1个：台面尺寸/中心孔径φ80/M6，步进电机1.8°,传动比135:1，分辨率/单脉冲行程0.00067°/2.4”。 电控平移台75X75，2个，直线导轨行程100。电控台控制器3个：工作电压AC220V，最大维数15，步距角1.8°，最高频率33kHz，细分模式：2/5/10/16/20/32/40/64细分,行程0-2000mm