千分尺规程宣贯.ppt

JJG21-2008《千分尺》检定规程宣贯 2009年5月 * 千分尺检定规程解释 * 检定千分尺的注意事项和修理常识 一、千分尺检定规程解释 1.前言 1.1任务来源 根据国家质检总局文件 1.2规程取代 JJG21-2008《千分尺》检定规程代替JJG21-95《千分尺》检定规程。 2.主要修订内容 ①格式②名词术语③10个条款的修订④新增3个条款⑤检定方法 主要修订内容如下： * 序号 JJG21-1995 JJG21-2008 1 规程的适用范围不包含数显外径千分尺。 增加了对数显外径千分尺特性指标和检定方法的规定。 2 外径千分尺分为0级和1级。 取消了外径千分尺的级别。 3 测微螺杆的轴向串动和径向摆动：用杠杆千分表检定。 一般情况下可用手感检查，有异议时用杠杆千分表检定。 4 测砧与测微螺杆测量面的相对偏移：偏移量为0.1mm～1.0mm。 技术指标缩小：偏移量为0.05mm～0.65mm。 检定方法有改动：可目力观察，有异议时用专用检具检定。 5 千分尺的测力（系指工作面与球面接触时所作用的力）应为6～10N。 千分尺的测力（系指工作面与球面接触时所作用的力）应为5～10N。 6 工作面的表面粗糙度 取消 7 工作面的平面度：0级外径千分尺工作面的平面度应不大于0.6μm，1级外径千分尺工作面的平面度应不大于1μm。壁厚千分尺测微螺杆工作面的平面度应不大于1.2μm，板厚千分尺测微螺杆工作面的平面度应不大于1μm。 测量面的平面度：外径千分尺测量面的平面度应不大于0.6μm；壁厚千分尺和板厚千分尺测量面的平面度应不大于1.5μm；数显外径千分尺测量面的平面度应不大于0.3μm。 * 序号 JJG21-1995 JJG21-2008 8 工作面的平行度 两测量面的平行度；指标有变化；检定方法改变。 9 示值误差：在示值误差的检定项目中规定了示值误差的指标。 示值误差：在示值误差的检定项目中规定了最大允许误差的指标，指标有变化。 10 校对用量杆尺寸偏差和工作面的平行度 校对用量杆尺寸偏差和变动量； 尺寸偏差指标增大；变动量采用原规程平行度指标； 工作面改为测量面； 新增加了数显外径千分尺校对用量杆尺寸偏差及变动量的技术指标和检定方法。 11 增加了数显外径千分尺的示值重复性。 12 增加了数显外径千分尺的数值漂移。 13 增加了数显外径千分尺的细分误差。 14 检定结果的处理未要求给出校对用量杆的实测值。 检定结果的处理要求给出校对用量杆实测值的最大值。 * 3.规程主要条文解释3.1规程适用范围：增加了分辨力为0.001mm、0.0001mm，测量上限至500mm的数显外径千分尺的首次检定、后续检定和使用中检验。3.2依据GB/T1216-2004和实际使用情况取消了千分尺的级别，不再将千分尺定为0级和1级。其各项技术指标基本与现行标准保持一致，与原规程1级千分尺的数值接近。3.3测微螺杆的轴向串动和径向摆动①技术指标不变②检定方法简化——根据实际情况，大多数千分尺的轴向串动和径向摆动量很小。 * 首次检定——新制造（旧规程）：对未曾检定过的新计量器具进 行的一种检定。后续检定——使用中（旧规程） ：首次检定后的检定。 使用中检验——两次检定之间需要的核查就是使用中的检验。 注：①修理后的检定列为首次检定; ②后续检定包括周期检定、周期检定的有效期内的检定。 3.4测砧与测微螺杆测量面的相对偏移①技术指标缩小——与GB/T1216-2004 保持一致②检定方法简化3.5测力技术指标扩大——与GB/T1216-2004 保持一致3.6 测量面的表面粗糙度取消此项技术指标——与GB/T1216-2004 保持一致取消原因——用测量面的平面度控制 * 3.7测量面的平面度①名词术语变化——“工作面”改为“测量面”②技术指标变化——基本与标准保持一致。 * 外径千分尺测量面的平面度不大于0.6μm，与标准和原规程0级的平面度一致。 板厚千分尺测量面的平面度原规程为不大于1μm；JB/T2989-1999板厚千分尺行业标准分为1级、2级，根据实际使用情况和广泛征求意见以及外径千分尺已取消级别的现状，板厚千分尺已没有分级的必要。新规程的平面度指标采用了JB/T2989-1999中2级的要求，规定为不大于1.5μm。 壁厚千分尺测量面的平面度原规程为不大于1.2μm；GB/T6312-2004壁厚千分尺国家标准规定为0.6μm，根据实际使用情况和广泛征求意见以及GB/T6312-2004中最大允许误差要±8μm的要求，壁厚千分尺测量面的平面度规定为不大于1.5μm。 数显外径千分尺测量面平面度应不大于0.3μ