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結晶結構分析(XRD) 實驗助教:林青誼 本實驗目的及要求 ? 目的 學習如何利用XRD來進行對結晶結構之分析。 ? 要求 1. XRD基本原理、構造 2. 判斷為何元素 3. 使用PDF卡(比對) X光之原理 電磁原理： 當帶電粒子在加速或減速過程中，會釋放出電磁波，在巨大加速或減速過程中，所釋放之電磁波具有高能量，當其波長在10-12－10-8m則成X光。 當已經高速加速之電子束撞擊陽極靶標，高速電子受到靶標原子的阻擋，急遽停止下來，其部分動能則以X光的型態釋放出來。高速電子撞擊時減少的能量△E ，所轉化出來之X光，其波長，λ，根據愛因斯坦公式△E＝ｈν＝ｈc/λ可表示為： 高速電子在撞擊到原子時，很容易將能量傳遞給原子中的電子，而使原子離子化當原子內層軌域之電子被激發後，其空出之位置很快會被外層電子的躍入填滿，在此電子躍遷的過程中，由於不同軌域間的能量差，X光會隨著放出。 此過程所產生的X光與原子中電子軌域之能量有關。 X 光 管 一般產生X光的設備是利用X光管(X-ray tube) ，早期的光管實際上就是陰極射線管X光管必須具有高度真空且同時包含(a)電子來源(b)電子之加速電壓(c)金屬靶標。高速電子撞擊靶標其動能可依下式計算：　 一般繞射用之X光管兩極間電壓，都維持在3至5萬伏特左右，以供電子加速。電子的來源乃來自通以高電流之高熱燈絲(多為鎢絲)所釋放出來的熱電子，這些熱電子受到兩電極間的高電壓加速，從陰極端射向陽極端集中撞擊在陰極靶的焦點(focal spot)上。所產生的X光從焦點向X光管側面四周輻射，最後經由二至四個窗口向外射出，為避免X光的損失，窗口材料多選用吸收X光較少的元素材料，例如鈹。 通常僅有1％之動能轉化成光其餘99％則轉變成熱能因此X光管外層必須以水冷卻避免過熱熔化。 通常僅有1％之動能轉化成光其餘99％則轉變成熱能因此X光管外層必須以水冷卻避免過熱熔化。 立方晶體中之X光繞射線選擇律 立方晶體之繞射線詳表 總結： X光的系統簡介 X光的基本原理 利用(h、k、l)結構判別 布拉格定律 選擇律(Selection Rule) 使用PDF card 比對 作業 繪出隨著電壓改變的Cu的光譜圖(圖中概略地表示出 SWL, Kα , Kβ)並討論圖形中的X,Y軸與SWL及特徵光譜與連續光譜 一個cubic structure的X-ray繞射圖形其2θ角度分別為44.53o,51.89o,76.44o,93.02o,和98.54o (a)試問此材料為何種晶體結構 (b)此材料的晶格常數 其使用Cu Kα(λ=0.154nm) 作業 銅為FCC結構,原子半徑a=1.28? Cu Kα=1.54? 鉻為Bcc結構,原子半徑a=1.25? (a)假設兩者均為理想晶體求出銅與鉻之晶體常數 (b)如果X-ray使用銅鈀,試繪出兩者之X-ray繞射圖形 (c)如將銅與鉻混合均勻各佔50% ,其X-ray繞射圖形會有 改變 (d)將鈀材更換為Mo靶後,需作哪些校正步驟 (e)更換為Mo靶後,其繞射圖形會有何不同 * * λ＝ｈc/ △E K.E. ＝eV＝1/2mv2 X光管工作情形 X光繞射儀示意圖 ? 從X-光管出來的光束包含了極強的Kα線 以及相對較弱的 Kβ線、連續光譜 ? 濾片的材質為靶材的原子序減一 ? 偵測器以相對於試片2倍速度旋轉 繞射儀（diffeactometer）：是一種用來決定粉末試片發生繞射角度的儀器，計數器被裝在可動的架上，其亦沿著O軸旋轉；它的角度位置以2θ標在科度上。可動架和試片是機械組合，如此試片旋轉θ則計數器會伴隨旋轉2θ；此保證入射角和反射角彼此保持相等。 特徵X-Ray 的產生 分析步驟 釐清那幾根peaks 是屬於基板的 計算薄膜結構 判斷出薄膜 為何元素 直接比對 PDF卡 比對 PDF卡 分析屬於薄膜 的繞射訊號 猜測並逐一比對 熱處理後薄膜與 基板之間可能形 成的化合物結晶相 h, k, l 為某一結晶面之Miller indices，通常為整 數，若已知某晶體之X-ray入射角度及其波長，可求得 dhkl，代入下式即可求出其晶體結構為何 種結構。XRD-1.EXE sin2θ1：sin2θ2 = h12+k12+l12：h22+k22+l22 h, k, l 全為偶數或奇數, 且(h + k + l)不為奇數之兩倍 鑽石立方 h, k, l 全為偶數或奇數 面心立方 h + k + l=偶數 體心立方 所有 (h, k, l) 簡單立方 有繞射線 晶格 111 2