用电沉积方法在乙二胺四乙酸溶液中.docVIP

用电沉积的方法在乙二胺四乙酸溶液中 制成的SnS薄膜的结构和性能 作者：Shuying Chenga,b,Yingjie Hea,Guonan Chena 作者单位：a中国教育部重点实验室分析检测食物安全（福州大学）技术部化学b中国清华大学电子科学与应用物理系）））衬底被用作所有工作电极硫酸亚锡硫代硫酸钠所有的化学品所用分析试剂去离子使用的蒸馏水该薄膜的组成一飞利浦PW2424 X射线荧光光谱仪。飞利浦’Pert-MPD X射线衍射（XRD）系统。表面形貌进行了检查，飞利浦XL30E扫描电子显微镜（SGML）的和多模NS3A 02 扫描探针显微镜。传输和反射光谱研究使用CARY500扫描紫外可见近红外分光光度计。薄膜的厚度。）nF) (3) 这是Ψ0的标准电极电势。R是摩尔气体常量（8.314K/mol）T是热力学温度（298K）F是法拉第常量（96.485c/mol）n是半反应得到的电量。K Sn（EDTA）2是稳定性常量，依据公式（3）Ψ0(Sn（EDTA））b））naS2O3溶液混合物不含EDTA和含EDTA时基板的循环伏安图，从中可看出含EDTA的溶液阳极电流比不含EDTA的阳极电流小。 最后，我们可以知道加入EDTA可以较容易地沉淀Sn和S并得到计量的SnS薄膜。沉淀电位可以比-0.70V更小. 图.1.在ITO的玻璃基质当（a）0.04mol/lNa2S2O3溶液：(