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§3-6 位错的增殖
§3-6 位错的增殖、塞积与交割
现象:晶体通过位错的滑移产生塑性变形,但塑性变
形以后,位错的数量不但没有减少,反而增加了。
这些都与位错的增殖、塞积、交割有关。
一. 位错的增殖
位错增殖的方式有多种;增殖位错的地方
称为位错源。在塑性较好的晶体中以滑移方式
进行。
常见的滑移增殖机制:弗兰克-瑞德
(Frank-Read )位错源增殖机制和双交滑移增
殖机制
弗兰克-瑞德 (Frank-Read )位错源增殖机制
使位错源进行增殖的临界切应力为:
式中:L为A 、B间的距离,等于2R 。
甲苯胺中的位错
Si 单晶中的F-R源,位
错线以Cu沉淀缀饰后,
以红外显微镜观察。
双交滑移增殖机制
交滑移的含义:螺位错从一个滑移面转到与其滑
移面相交的另一个滑移面上滑移。(螺位错在某一滑
移面上运动受到阻碍时,可能离开原滑移面转向与其
相交的另一个滑移面上继续滑移的过程。)
双交滑移:螺位错滑移时因局域切应力变化而改
变滑移面,又因局域切应力减弱而回到原滑移面继续
滑移的过程。
C
/ D
m A
m m
m B
n
n
注:局域切应力的作用仅使一段位错发生双交滑移,
因而在双交滑移发生由次滑移面至主滑移面转化时,
出现相对固定的两点,它就以F-R源开始增殖。
二. 位错的塞积
位错滑移时,在滑移面上遇到障碍物(晶界、第二相
等),位错将在障碍物处塞积,形成塞积群。
越靠近障碍物,位错排列越密集,随距障碍物的距离增
大,位错间距增。
二. 位错的塞积
塞积群中,位错数N为: kπτ L
N 0
Gb
其中, 为作用在滑移面上的外加分切应力;τ
0
L为位错源到障碍物的距离;
G为切变弹性模量
K为系数:螺位错:k=1
刃位错:k=1- ν
障碍物受到的切应力为τ Nτ0 ,塞积群在障碍
物处产生应力集中,有可能在障碍物处产生微裂
纹,而导致晶体断裂。
不锈钢中晶界前塞积的位错
三. 位错的交割
定义:不同滑移面上运动的位错相遇发生
相互截割的过程。
位错交割的结果:在原来直的位错线上形
成一段一个或几个原子间距大小的折线,即割
阶与扭折。
割阶:形成的曲折线段不在位错所在的滑移面上。
扭折:形成的曲折线段处于位错所在的滑移面上。
几种典型的位错的交割
两个柏氏矢量b相互垂直的刃位错的交割
两个柏氏矢量相互平行的刃位错的交割
注:扭折对位错运动无阻碍,且不稳定,在位错线
张力的作用下将会消除。
刃位错和螺位错的交割(柏氏矢量相互垂直)
两个螺位错的交割(柏氏矢量相互垂直)
总 结:
晶体中两个运动位错交割,各自位错线都可能产生
割阶或扭折,割阶或扭折的柏氏矢量与原位错相同;割
阶或扭折的长度由另一位错的柏氏矢量的大小决定。
割阶都是刃型位错;而扭折可以是刃型的,也可以
是螺型的。
割阶因与原位错线不在同一滑移面上,对位错运动
产生阻碍作用。(当两者滑移不一致时,割阶只能
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