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§3-6 位错的增殖

§3-6 位错的增殖、塞积与交割 现象:晶体通过位错的滑移产生塑性变形,但塑性变 形以后,位错的数量不但没有减少,反而增加了。 这些都与位错的增殖、塞积、交割有关。 一. 位错的增殖 位错增殖的方式有多种;增殖位错的地方 称为位错源。在塑性较好的晶体中以滑移方式 进行。 常见的滑移增殖机制:弗兰克-瑞德 (Frank-Read )位错源增殖机制和双交滑移增 殖机制 弗兰克-瑞德 (Frank-Read )位错源增殖机制 使位错源进行增殖的临界切应力为: 式中:L为A 、B间的距离,等于2R 。 甲苯胺中的位错 Si 单晶中的F-R源,位 错线以Cu沉淀缀饰后, 以红外显微镜观察。 双交滑移增殖机制 交滑移的含义:螺位错从一个滑移面转到与其滑 移面相交的另一个滑移面上滑移。(螺位错在某一滑 移面上运动受到阻碍时,可能离开原滑移面转向与其 相交的另一个滑移面上继续滑移的过程。) 双交滑移:螺位错滑移时因局域切应力变化而改 变滑移面,又因局域切应力减弱而回到原滑移面继续 滑移的过程。 C / D m A m m m B n n 注:局域切应力的作用仅使一段位错发生双交滑移, 因而在双交滑移发生由次滑移面至主滑移面转化时, 出现相对固定的两点,它就以F-R源开始增殖。 二. 位错的塞积 位错滑移时,在滑移面上遇到障碍物(晶界、第二相 等),位错将在障碍物处塞积,形成塞积群。 越靠近障碍物,位错排列越密集,随距障碍物的距离增 大,位错间距增。 二. 位错的塞积 塞积群中,位错数N为: kπτ L N 0 Gb 其中, 为作用在滑移面上的外加分切应力;τ 0 L为位错源到障碍物的距离; G为切变弹性模量 K为系数:螺位错:k=1 刃位错:k=1- ν 障碍物受到的切应力为τ Nτ0 ,塞积群在障碍 物处产生应力集中,有可能在障碍物处产生微裂 纹,而导致晶体断裂。 不锈钢中晶界前塞积的位错 三. 位错的交割 定义:不同滑移面上运动的位错相遇发生 相互截割的过程。 位错交割的结果:在原来直的位错线上形 成一段一个或几个原子间距大小的折线,即割 阶与扭折。 割阶:形成的曲折线段不在位错所在的滑移面上。 扭折:形成的曲折线段处于位错所在的滑移面上。 几种典型的位错的交割 两个柏氏矢量b相互垂直的刃位错的交割 两个柏氏矢量相互平行的刃位错的交割 注:扭折对位错运动无阻碍,且不稳定,在位错线 张力的作用下将会消除。 刃位错和螺位错的交割(柏氏矢量相互垂直) 两个螺位错的交割(柏氏矢量相互垂直) 总 结: 晶体中两个运动位错交割,各自位错线都可能产生 割阶或扭折,割阶或扭折的柏氏矢量与原位错相同;割 阶或扭折的长度由另一位错的柏氏矢量的大小决定。 割阶都是刃型位错;而扭折可以是刃型的,也可以 是螺型的。 割阶因与原位错线不在同一滑移面上,对位错运动 产生阻碍作用。(当两者滑移不一致时,割阶只能

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