基于光电二极管检测电路噪声分析与电路设计.pdf

大 庆 石 油 学 院 学 报 第 33 卷 第 2 期 2009 年 4 月 J OU RN AL O F DA Q IN G P E TROL EU M IN STI TU TE Vol . 33 No . 2 Ap r . 2009 基于光电二极管检测电路的噪声分析与电路设计 王立刚 , 建天成 , 牟海维 , 刘 　强 , 付天舒 ( 大庆石油学院 电子科学学院 ,黑龙江 大庆 　1633 18 ) 　　摘 　要 :利用噪声和信噪比的理论公式及等效电路模型 ,分析光电二极管检测电路噪声产生的原因. 给出低噪声光 电检测电路的设计原则 ,并设计基于光电二极管低噪声前置放大电路. 结果表明:光电二极管的噪声主要是光转换器件 内部电阻及 PN 结中载流子随机涨落引起的热噪声和散粒噪声 ,该噪声与光电二极管结构 、材料 、温度 、工作电压及外部 环境的干扰有关 ;前置放大电路的噪声主要与前置放大器的噪声电压 、噪声电流 、温度变化及反馈电阻有关. 关 　键 　词 :光电检测 ; 噪声分析 ; 电路设计 ; 微弱信号 ( ) 中图分类号 : TN 722 . 3 　　　文献标识码 :A 　　　文章编号 :1000189 1 2009 经光电二极管转换的电信号通常都比较微弱 ,检测微弱光电信号很容易受噪声的干扰. 在设计光电 检测电路时 ,要尽量减小噪声 ,提高系统的信噪比和检测分辩率. 前人[ 1 - 3 ] 研究结果表明 ,在光电检测电 路中 ,光电转换器件和前置放大电路的噪声对系统影响比较大 ,但对噪声源的分析及设计低噪声光电检测 电路的论述[4 - 7 ] 并不全面. 笔者分析了基于光电二极管光电检测电路中噪声产生的原因、特点 ,提出低噪 声光电二极管检测电路设计原则与设计方法. 1 　光电二极管的噪声 μ 　　微弱光电信号检测的光电流一般为 nA 至 A 级. 探测器 [ 1] SP ICE 模型 见图 1. 由图 1 可见, 该模型由一个被辐射光激发 的电流源 、二极管 、结电容和寄生的串联及并联电阻组成. 结电 容 C 是由光电二极管的 P 型和 N 型材料之间的耗尽层宽度产 po 生的, 耗尽层窄, 结电容的值大; 相反, 较宽的耗尽层表现出较宽 的频谱响应; 硅二极管结电容的数值范围为 3 p F 到几千 p F. 漏 图 1 　光电二极管 SPICE 模型 电阻 RD 与光电二极管零偏或正偏有关, 在室温下, 该电阻可超过 100 MΩ, 是主要的噪声源, 即图 1 中的 e ; R 产生的噪声称为热噪声和散粒噪声电流; I 为光电流; I 为散粒噪声电流, 与光电流 、暗电流和背 po D P S 景电流有关; R s 为体电阻, 为 10 ～ 1 000 Ω, 此电阻很小, 仅对电路的频率有影响. 光电二极管的主要噪声 是热噪声和散粒噪声. 1