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1、TEM支持膜的选择 针对常见样品，从普通碳膜、微栅、超薄碳膜等支持膜中作出选择 支持膜： （1）有一定的机械强度；（2）电子束照射下稳定性好；（3）容易透过电子射线； （4）本身在实验条件下无结构；（5）化学稳定性好；（6）容易确定厚度；（7）容易制作。 普通、微栅与超薄碳膜的区别： 普通碳膜（由载网、有机方华膜和碳膜组成）当样品放在电镜中观察时，有机膜在电子束照射下，会产生电荷积累，引起样品放电，从而发生样品漂移、跳动、支持膜破裂等情况。所以，人们考虑在其上喷碳，提高支持膜的导电性，达到良好的观察效果。这种经过“喷碳的有机膜”，简称“普通碳膜”，一般膜厚度为7-10nm。 微栅碳膜（由载网、微孔有机膜和微孔碳膜组成）是支持膜的一个品种，它是在制作支持膜时，特意在膜上制作的微孔，所以也叫“微栅支持膜”，它也是经过喷碳的支持膜，一般膜厚度为15-20nm。它主要是为了能够使样品搭载在支持膜微孔的边缘，以便使样品“无膜”观察。无膜的目的主要是为了提高图像衬度，所以，观察管状、棒状、纳米团聚物等，常用“微栅”支持膜，效果很好。特别是观察这些样品的高分辨像时，更是最佳的选择。 有一个维度大于1微米。 超薄碳膜，也是支持膜的一种。它是在微栅的基础上，叠加了一层很薄的碳膜，一般为3-5nm。这层超薄碳膜的目的，是用薄碳膜把微孔挡住。这主要是针对那些分散性很好的纳米材料，如：10nm以下的样