银联卡磁条卡物理性能检测标准.pdf

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银联卡磁条卡物理性能检测标准

Q/CUP 中 国 银 联 股 份 有 限 公 司 企 业 标 准 Q/CUP 010—2006 替换Q/CUP 010-2005 银联卡磁条卡物理性能检测标准 Cards with magnetic stripes specifications -Physical characteristics test requirement 中国银联股份有限公司 发布 Q/CUP 010 -2006 目 次 前 言 II 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义 1 4 检测条件 2 5 检测卡片要求 2 5.1 样卡数量要求 2 5.2 样卡外观要求 2 5.3 样卡基色要求 2 6 检测要求 2 6.1 预处理 2 6.2 检测环境 3 6.3 复核数据 3 6.4 出具报告 3 7 检测案例描述 3 7.1 代码定义 3 7.2 整卡翘曲测量(ZKQQ ) 3 7.3 卡片切边质量测量(QBZL ) 3 7.4 磁条区变形的测量(CTBX ) 4 7.5 磁条表面粗糙度的测量(BMCC ) 5 7.6 磁条表面轮廓及磁条高度测量(BMLK ) 5 7.7 卡片弯曲刚度的测量(WQGD ) 8 7.8 卡片尺寸测量(KPCC ) 8 7.9 银联标识定位测量(BSDW ) 9 7.10 银联全息标志定位测量(QXDW ) 9 7.11 银联标识微缩文字检测(WSWZ ) 10 7.12 磁条定位测量(CTDW ) 11 7.13 签名条定位检测(QMDW ) 11 7.14 卡片厚度检测(CPHD ) 12 7.15 温湿度条件下卡的尺寸稳定性和翘曲稳定性检测(WSWD ) 12 7.16 卡片粘结性检测(KPZJ ) 12 7.17 磁特性分析检测(CXFX ) 13 7.18 磁条耐磨损检测(CTNM ) 13 7.19 层间剥离强度检测(CJBL ) 15 7.20 银联标识色值检测(BSSZ ) 15 7.21 耐化学性能检测(HXXN ) 15 7.22 VSM检测(VSMC ) 16 7.23 旧版银联标识定位测量(GJYL ) 16 I Q/CUP 010 -2006 前 言 本标准主要依据ISO/IEC7810、ISO/IEC7811和Q/CUP005-2006 《银联卡卡片规范》,在此基础上制 定了磁条卡物理性能的相关检测案例。 本标准对磁条卡物理性能检测提供了指导意见和检测方法。 本标准的主要起草单位:中国银联技术管理部、北京银联金卡科技有限公司。 本标准主要起草人:刘志刚、金自荣、张永峰、刘蕾、陈学英、张志波、肖敬若。 II Q/CUP 010 -2006 银联卡磁条卡物理性能检测标准 1 范围 本部分参照ISO/IEC7810、ISO/IEC7811和Q/CUP005-2006《银联卡卡片规范》,适用于银联磁条卡。

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