放大率恒定二元光学超光谱成像仪光学系统设计.pdfVIP

第 22 卷 　第 11 期 光 　学 　学 　报 Vol . 22 ,No . 11 　　　　　 　 　 　　　　 　　　　　　　　　　　　　 2002 年 11 月 AC TA O P T ICA SIN ICA November , 2002 文章编号 :(2002) 放大率恒定的二元光学超光谱成像仪光学系统设计 于 　斌 　禹秉熙 ( 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所空间光学部 ,长春 130022) 摘要 : 　二元光学元件具有多种应用 。用作透镜 ,在原理上色差非常大 ,若不在设计上做出补偿 ,则会限制其在宽 波段上的使用 。从理论上简单阐述了利用具有独特色散特性的二元光学元件的新型超光谱成像仪的基本原理和 应用前景 。在此超光谱成像仪中 ,二元光学透镜焦距随波长的变化改变了系统的 F 数 ,因此改变了系统的放大率 , 即系统放大率是波长的函数 ,这将引起光谱图像的像元配准误差 ,得到并不精确的相对光谱信号强度 ,从而限制了 光谱图像重建算法的精度 ,为了补偿这一缺点 ,通过光学二组元法设计的变焦系统成功地解决了这一问题 ,并给出 了理论设计公式 。 关键词 : 　超光谱成像 ; 二元光学元件 ; 成像光谱仪 ; 变焦透镜 ; 光学二组元 中图分类号 : O436 ∶O435 . 2 　　　文献标识码 : A 1 　引　　言 信号强度 。为了补偿成像过程中这一缺点 ,本文通 过光学二组元法设计的简单的变焦系统从理论上解 20 世纪 80 年代 ,遥感技术的重要成就之一是 决了这一问题 ,并给出了设计公式 , 以期待对二元光 超光谱遥感技术的兴起 ,它是遥感技术的重要进步 学超光谱成像仪的研制开发及应用有所裨益 。 和发展 。成像光谱仪亦称为超光谱成像仪 ,它能够 在波长相邻 、连续采样的窄带光谱波段上获得数十 至数百个通道光谱图像 ,利用这种高光谱分辨率的 2 　二元光学超光谱成像仪的基本原理 超多光谱图像数据 ,可以根据地球表面众多物体的 二元光学超光谱成像仪是一种沿光轴方向色散 光谱特征识别它们 ,还能做到对地面物质的理化 、生 的仪器 ,它采用了 PA T 公司发明并取得专利的创新 物性能诊断和成分分析等 ,因此 ,它具有广泛的应用 [7 ] ( ) 技术 ———成像多光谱检测 IM SS 。二元光学超 前景和其它技术手段无可比拟的优势 。在过去的十 光谱成像仪使用单一的二元光学衍射透镜同时完成 几年里 ,欧美等国先后投入了大量人力和物力对成 成像和色散功能 ,其基本概念如图 1 所示 。在图中 , 像光谱仪进行研究 , 已发展了多种色散型、计算层析 比较了二元光学超光谱成像仪和普通单色仪 。在一 型和干涉傅里叶变换类型的超光谱成像技术 ,它们 ( ) 台普通 常规 单色仪中 ,基本的元件是入射狭缝 、出 中的一些已在实际系统中得到应用[ 1～5 ] 。美国光 ( ) 射狭缝 ,色散介质 棱镜或光栅 。为了得到高分辨 量子中心罗姆实验室的 Lyons[6 ] 在 1995 年