石墨烯表征方法.pdfVIP

： 彭黎琼等 石墨烯的表征方法 ３０５５ 文章编号： （ ） １００１９７３１２０１３２１３０５５０５ － － － 石墨烯的表征方法＊ ， ， ， 彭黎琼 谢金花 郭 超 张 东 　 　 （ ， ） 同济大学材料科学与工程学院先进土木工程材料教育部重点实验室 上海 ２０００９２ ： ， ， 、 ， 摘 要 单层石墨烯的厚度为０．３３５ｎｍ 在垂直方向 数 而 ＩＲ ＸＰＳ和 ＵＶ 则可对石墨烯的结构进行表征 　 　 ， 。 上有约 １ｎｍ的起伏 且不同工艺制备的石墨烯层数和 用来监控石墨烯的合成过程 ， 结构有所不同 如何有效地鉴定石墨烯的层数和结构 ２．１ 光学显微镜和 ＳＥＭ 表征 　 。 是获得高质量石墨烯的关键步骤之一 介绍了光学显 光学显微镜是快速简便表征石墨烯层数的一种有 ［ ］ 、 （ ）、 。 １ 微镜 扫描电子显微镜 ＳＥＭ 透射电子显微镜 效方法 Ｇｅｉｍ 等 发现采用涂有氧化物的硅片作为 （ ）、 （ ）、 （ ）、 ， ， ＴＥＭ 原子力显微镜 ＡＦＭ 拉曼光谱 Ｒａｍａｎ 红 衬底 调整硅的厚度到 ３００ｎｍ 在一定波长光波的照射 （ ）、 （ ） ， 外光谱 ＩＲ Ｘ射线光电子能谱 ＸＰＳ 和紫外 可见光 下 可以利用衬底和石墨烯的反射光光强的不同所造 － （ ） 。 。 谱 ＵＶ Ｖｉｓ 等几种用来表征石墨烯的主要方法 成的颜色和对比度差异来分辨层数 根据 Ｒｏｄｄａｒｏ － ［ ］ ２ ： ； ； ； ； ； 关键词 石墨烯 表征 层数 结构 显微镜 光谱 等 研究这是由于单层石墨层和衬底对光线产生一定 　 ： ： ， ， 中图分类号 ＴＮ３８３ 文献标识码 Ａ 的干涉 有一定的对比度 因而在光学显微镜下可以分 　 ： ／ 。 ， ＤＯＩ １０．３９６９ ．ｉｓｓｎ．１００１ ９７３１．２０１３．２１．００１ 辨出单层石