测井方法4-自然电位解释2.ppt

第三节 SP曲线特征及其应用 第二节 SP的影响因素 第一节 SP的成因 绪言 第二章 自然电位测井 前节知识回顾 1、自然电位、静自然电位的概念 2、井下自然电位产生机理 不同井眼和地层条件对所测的自然电位幅度影响很大。因此，在应用其资料时，必须考虑其影响因素，否则将影响解释精度。 自然电位的幅度、特点主要取决于自然电场的静自然电位SSP和自然电流I的分布。 SSP的大小主要取决于岩性、温度、地层水和泥浆中所含离子成分、泥浆滤液电阻率与地层水电阻率之比。 自然电流I的分布主要取决于介质的电阻率、地层厚度、井径大小。 第二节 影响自然电位的因素 扩散电动势 扩散吸附电动势 以泥岩为基线 当CwCmf时，砂岩段出现自然电位负异常 当CwCmf时，砂岩段出现自然电位正异常 当Cw＝Cmf时，不产生自然电场电动势，自然电位没有异常 一、地层水和泥浆中含盐浓度比值（Cw/Cmf)的影响 以泥岩为基线，砂质岩层自然电位常出现异常变化。 当目的层为纯砂岩时，它与围岩交界处SSP达到最大值SSPmax。 当温度在18?C时： 目的层含泥质时，SSP降低，自然电位异常幅度减小。 剖面上泥岩性质变化（Qv变化）时，自然电位基线会偏移。 二、岩性的影响 绝对温度 Qv→∞时： P3 显然，Ed、Eda都和绝对温度T成正比。 P5→(1-3?) Ed和Eda由离子的扩散吸附形成，故当泥浆和地层水中的化学成分不同时，其所含离子不同，导致溶液中离子数的差异，不同离子的离子价和迁移率又不同，这就直接影响扩散吸附电动势系数，最终使得Ed和Eda变化。 18°C时几种盐溶液的Kd值 溶质 NaCl NaHCO3 CaCl2 MgCl2 Na2SO4 KCl Kd(Mv) -11.6 2.2 -19.7 -22.5 5 -0.4 书中P8（1－8）式可写成： 地层较厚时，由于岩层的截面积比井的截面积大得多，所以，砂岩和泥岩对自然电流的电阻Rsd、Rsh比泥浆柱的电阻Rm小得多。此时，对于纯砂岩来讲， ΔUsp≈SSP。 当地层电阻率增高时， Rsd、Rsh与Rm比较不能忽略，则ΔUspSSP。即地层电阻率↑→ΔUsp↓。 曲线号码h/d d 不同厚度地层自然电位理论曲线 地层厚度h↑→ΔUsp↑。 井径扩大↑→井的截面积加大↑→自然电流在井内的电位降变小↓→ ΔUsp降低↓。 泥浆侵入地层→泥浆滤液与地层水的接触面向地层内推移→其效果相当于井径扩大↑→ ΔUsp降低↓ 自然电位曲线 估计渗透层厚度 判断渗透层 估算泥质含量 确定地层水电阻率 自然电位曲线特征 单个 砂岩层 地层愈厚，ΔUsp愈接近SSP 曲线对地层中点对称，地层中点处异常值（ ΔUsp）最大 地层厚度变小， ΔUsp也随之变小，曲线顶部变尖，根部变宽 地层厚度达到h/d4时，自然电位的半幅点对应地层界面。厚地层可用半幅点确定地层界面 地层变薄时，对应地层界面的自然电位值向曲线顶部移动。此时不能用半幅点确定地层界面 ab段——泥岩基线 c点——半幅点 d点——地层中部 自然电位曲线特征 砂泥岩剖面中 泥质含量增加，负异常幅度变低。 渗透层（砂岩）越纯，负异常越大； RwRmf时，以泥岩为基线，渗透层会出现负异常； 确定渗透层界面——半幅点法 自然电位曲线与自然伽马曲线配合，划分渗透层的界面非常有效 图中CE连线=砂岩厚度 厚层 薄层 图中CE连线砂岩厚度 h 厚储层 h h 薄储层 泥质 一般把泥质砂岩中的细粉砂和湿粘土的混合物叫做泥质 分散泥质 泥质分散在砂岩颗粒间孔隙的表面 层状泥质 泥质在砂岩中呈条带状 结构泥质 泥质颗粒代替了某些砂岩颗粒的位置 估算泥质含量方法 泥质的含量及其存在状态对砂岩产生的扩散吸附电动势有直接影响→可以泥岩自然电位曲线估算泥质含量。 直接法 间接法 把某地区各种含泥质的砂岩经取样测定，直接建立自然电位幅度ΔUsp(和相对自然电位Tsp）与泥质含Vsh的相关关系 直接法 SPmax——本地区标准层（一般纯砂岩）的自然电位幅度 P11 经验公式 间接法 PSP——泥质砂岩假静自然电位 SSP——厚的纯水砂岩层的静自然电位 现场应用：以泥岩的SPsh为基线，分别读出(含泥）砂岩的自然电位SP和厚的纯水砂岩层的自然电位SPsd，则有： 计算机常用公式 该公式对水层适用，油气层和薄层计算的Vsh偏高 P12→(1-12) 意义 Rw是计算储层含油气饱和度的必要参数 Rw确定方法 直接法：试水 间接法：测井(电法测井、SP测井) 理论依据 Rmfe——等效泥浆滤液电阻率 Rwe——等效地层水电阻率 选择厚度较大、饱含水的纯砂岩层，将其ΔUsp校正→SSP 求纯水砂岩地层水电阻率Rw方法 1、确定静自然电位SSP 2、确定等效泥浆滤液