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引言 可靠性与失效 电子元器件 元器件制造 设计 工艺 评价 反馈 原理 失效分析技术交流 功能 目标 固有 应用 失效率 寿命 环境 可靠性 可靠性 工信部电子第五研究所 … 元器件应用 选型 采购 装配 现场 （中国赛宝实验室） 研究分析中心 供应商 采购批 失效原因 使用信息 可靠性的历史： 李少平 评价 评价 分析 反馈 与失效作斗争的历史！ 中国赛宝实验室 中国赛宝实验室 CEPREI 1 CEPREI 2 引言 可靠性与失效 失效分析技术 失效分析（FA）技术—与失效作斗争的有效技术 分析流程 GJB548A-96微电子器件试验方法和程序，“方法5003微 查 调 息 信 场 认 现 确 效 式 失 模 效 查 析 失 检 分 观 性 析 外 坏 分 破 性 非 坏 析 破 分 半 性 坏 析 破 分 合 写 综 编 告 报 电路的失效分析程序”对失效分析目的的描述： 失效分析是对已失效器件进行的一种事后检查，根据需 ↑ ↑ ↑ ↑ ↑ ↑ ↑ 要，使用电测试以及许多先进的物理、金相和化学的分析技 术，以验证所报告的失效，确定其失效模式，找出失效机 理。 失效分析程序（按试验条件所指明的）应足以得出相应 结论，确定失效的原因或相应关系，或者在生产工艺、器件 设计、试验或应用方面采取纠正措施，以便消除所报告的失 效模式或机理产生的原因或防止其重新出现。 中国赛宝实验室 中国赛宝实验室 CEPREI 3 CEPREI 4 失效分析技术 失效分析技术 －外观分析 －外观分析 外观分析工具：