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锗系相变材料的晶体结构

:\ /; /;\:/: /; /; /; 一 综 述 ~ !.舍 ! !舍 :全 :舍 :.舍 :; 锗系相变材料的晶体结构 李 明 ,宓一鸣 ,言 智 ,季 鑫 (1.上海工程技术大学材料工程学院,上海 201620;2.上海工程技术大学基础教学学院,上海 201620) 摘 要:介绍了锗系相变材料的应用。用原位变温XRD对锗系相变材料相变过程中的晶体结构变化进行 实时检测发现,在不同温度会 出现不同的晶向。论述 了锗 系相变材料的相变过程即非晶态到面心 立方晶态的变化,面心立方晶态到六方晶态的变化,以及掺杂元素对锗系相变材料结构的影响。 关键词:锗 ;相变材料 ;原位变温 XRD;晶体结构 中图分类号:TN304.9 文献标识码:A 文章编号:1008-1690(2012)06-0018-04 CrystallineStructureofGermanium SeriesTransformationMaterials LIMing ,MIYi—ming ,YAN Zhi,jIXin (1.CollegeofMaterialEngineering,ShanghaiUniversityofEngineeringScience,Shanghai201620,China; 2.CollegeofFundamentalStudies,ShanghaiUniversityofEngineeringScience,Shanghai201620,China) Abstract:Theapplicationsofgermanium seriestransformationmaterialwere introduced.Rea1.timedetection of crystalline structure changeofthe germanium seriestransfformation materialwasperformanced by an in—situ variable—temperature XRD. The results reveal that different crystal orientations will appear at different temperatures.Thefollowingsubstancesweredescribed,includingtransformationprocessofthegermanium series transformationmaterial(i.e.changeofamorphouscrystallinetoface-centeredcubiccrystalline,changeofface— centeredcubiccrystallinetohexagonalcrystalline)andtheeffectofdopingelementsoncrystallinestructureofthe germanium seriestrasformationmateria1. Keywords:germanium;transformationmaterial;in-situvariable-temperatureXRD;crystallinesturcture 随着计算机技术的迅速发展,对存储技术的要 究状况看,能满足存储技术的要求。 求越来越高。自从文献[1]报道硫系相变材料可用 1 分析材料结构的方法 于相变数据存储之后,相变存储技术很快被开发出 来,并于20世纪80年代得到了迅速发展。相变材 1.1 X射线衍射(XRD) 料的优劣直接影响相变存储器件的研究,研究和开发 XRD是利用x射线在晶体中的衍射现象来分 性能优良的相变材料是发展相变存储技术的核心。 析材料的晶体结构、晶格参数、晶体缺陷(位错等)、 硫系化合物是重要的相变存储材料,特别是V— 不同结构相的含量及 内应力的方法,是建立在一定 VI族二元和 Ge—V—VI族三元化合物。相变材料的 晶

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