用光学多道分析仪进行汞光谱的标定.docVIP

光学多道分析仪的汞光谱标定 光学多道分析仪(Optical Multichannel Analyzer)简称OMA，是近代大型精度的光谱学仪器之一，具有灵敏度高，数据采集迅速，数据存储量大，数据处理计算机化等特点。它不单兼顾了平面摄谱仪和分光仪光度计的各种优点，而且又与计算机系统结合，充分发挥了计算机在自动控制采样，存储数据、处理及打印数据、绘图等多种功能。因此，它能用于几乎所有的光谱测量，分析工作。当配用不同的前置光学系统后，可以分别在红外，可见，紫外等波段内进行光谱的分析和研究工作。 【实验目的及要求】 学习并了解光学多道分析仪的构造及其工作原理； 掌握测量微弱信号时，比较常用的几种提高信噪比的方法； 初步掌握光学多道分析仪的使用方法。 【光学多道探测器的结构和工作原理】 光学多道分析仪由单色仪，光多道探测器(包括支持它的电子线路及冷却系统)，计算机控制部分(及相应的打印机，绘图仪) 构成。在实际的应用中，还应根据不同的需求，加接外光路系统。 (参见图 1 实验装置图) 图2所示为单色仪，采用切尔尼——吐奈尔装置(Czerny——Turer)，两凹面镜的焦距为320mm，光束经入射狭缝S1投射到准直镜M1后，形成平行光射到光栅G上，光栅色散后的光再由反射镜M2聚焦成像在出射狭缝S2上，其焦平面恰在多道探测器的探头处，从而保证后面的探测器能同时获得较宽频率范围的色散光谱。 光栅：是衡量一个仪器分辨率及成像质量的一个最重要的光学器件。本机采用300条/mm及1200条/mm两种全息光栅。根据电磁学理论，全息光栅的适用范围为光栅常数0.5~3倍，即2.4~400μm，实测响应曲线为200~1000μm。 波长范围的调整：在单色仪的外部有一机械转动装置，通过转动旋钮，即可调节光栅的转动角度，并有数字自动显示此时探测器中心位置所对应的波长。 图3所示 I-SPS探测器为带有增强级的1024个象元的光多道探测器的结构原理简图。它是利用MOS技术在一整块N型硅衬底上扩散条型的P型硅沟构成直线排列的1024个象元，每个象元为13μm2500μm的细长矩形，象元之间间隔12μm。 1—窗口; 2—光电阴极；3—微通道板; 4—荧光屏； 5—光纤耦合SPD；6—冷却器 图 2 I-SPS探测器的结构原理图 工作原理为：光信号有光窗射入，到达光阴极，激发出光电子。在-200V电压作用下，电子被加速进入微通道板。在5KV的作用下，使光电子倍增1000，并具有较高的速度，轰击磷光材料的屏，激发出光子，再由光纤耦合到列阵的光敏二极管上，由这些光敏二极管完成第二次光电转换输出电讯号。 光多道探测器的优点 ⅰ，检测速度快。由于光电转化的时间级为短暂，响应曲线的时间间隔可以为16mS。 ⅱ，可对1024个点同时采样，这样，就可以定量比较同一时刻不同波长光谱的光强度的不同。 ⅲ，结合以上两个特点，可以获得任意一段时间内任一被观测的光谱的连续变化过程信息。 三、 提高微弱信号信噪比的方法 对于一般的光学实验，由于实验光源强度足够大，一般不会考虑信噪比的问题，但当被检测的光信号极其微弱，以致到了其强度与仪器本身所固有的热噪声可比时，如何选择实验条件，从而能从噪声背底中分离出被测信号，就变得十分重要了。这也是判断一个精密仪器灵敏度的最重要的标准。 a 噪声来源及处理 ⅰ，暗电流：硅二极管不可避免地要出现反向电流，从而产生背景和噪声； 减少的方法：降低探测器的温度，(本仪器加装了半导体致冷系统，最低可达-40℃)从而大大降低了探头的反向电流。 ⅱ，热噪声：这是所有的固体材料中电子的热运动所引起的，在精密测量时这种热噪声是不容忽略的，根据热力学理论： 式中： 因此，降低温度仍是降低热噪声的重要手段。 ⅲ，前置放大噪声：前置放大器的等效输入电流噪声、等效输入电压噪声从本质上讲也是由于电子运动的热噪声所引起的。因此，采用降低前置放大电路的温度，也是可行的。 b 统计学的数学处理方法： ⅰ，延长曝光时间。由统计规律可知：热噪声由于有涨落现象，对于每个点来讲，随着曝光时间的增加，信号强度是正比增加的。于是噪声强度的增长就逐渐滞后。因此，曝光时间越长，信噪比的改善越显著。 ⅱ，1024道同时采集信号。由统计学可知，如果用N个光敏二极管组成的列阵收集光谱的信号累积时间与单道系统取N 个点扫描同一段光谱所需时间相同的话，理论上，前者的信噪比是后者的倍，则我们所用的光学多道分析仪为=32倍。这是很可观的。尤其是本仪器当冷却到-40oC时，曝光时间可以到1小时。而若是逐点扫描，每个点1小时，所需的时间实际上是不可能完成的。 ⅲ，在计算机的控制系统中加入“扣除背底”程序，每