降低测试系统的切换杂讯-Keysight.PDF

降低測試系統的切換雜訊 應用手冊1441-2 前言 設計一個用來測試電子與機電產品的切換系統本身所會 基本的測試系統架構如圖 1 所示，其中切換的部份是整 碰到的問題可能和設計所要測試的產品一樣多。現代化 個系統的核心，可將多個測試點連接到量測儀器上，並 的測試系統中會有許多的信號和電源線以激發或量測 將信號和電源繞接到 DUT 上。它也是許多 (有時甚至是 DUT ，還會使用各式各樣的切換開關以自動接通連線， 難以理解的) 量測誤差來源，因為近距離間如此多的互 如此一來，就需要一個多點的切換系統。在此情況下， 連會提供很多雜訊耦合的機會。 激發信號、電源信號、以及其它信號在系統中交互作用 的結果可能就會產生雜訊並且干擾量測。 雜訊問題只有三種形成的管道。首先，雜訊問題一定會 有一個雜訊源，將雜訊耦合到容易受雜訊干擾的接收器 上，因此若要解決雜訊問題，第一步必須先找出雜訊的 來源，接著要找出感應雜訊的接收點，最後則要查出雜 訊的耦合方式。這並不是一個神秘難解的追查過程，而 是一個可以完全遵循物理定律的流程。雖然有時候，雜 訊源和耦合的方式可