数字电路与逻辑设计实验教材.doc

目录 引言实验一TTL与非门的静态参数测试 …………………………………实验二组合逻辑电路分析与设计………………………………………实验三利用MSI设计组合逻辑电路……………………………………实验四译码显示电路……………………………………………………实验五组合电路中的竞争与冒险………………………………………实验六同步计数器的设计……………………………………………… 实验七计数、译码、显示综合实验…………………………………… 实验八8421码检测电路的设计…………………………………………实验九555时基电路及其应用…………………………………………实验十D-A、A-D转换器………………………………………………实验十一三位半直流数字电压表…………………………………………实验十二………………………………………………46 附录所用集成电路型号及外引线排列图……………………………………2.实验记录和经过整理的数据、表格、曲线和波形图，其中表格、曲线和波形图应充分利用专用实验报告简易座标格，并且三角板、曲线板等工具描绘，力求画得准确，不得随手示意画出。 3.实验结果分析、讨论及结论，对讨论的范围，没有严格要求，一般应对重要的实验现象，结论加以讨论，以使进一步加深理解，此外，对实验中的异常现象，可作一些简要说明，实验中有何收获，可谈一些心得体会。 实验一 TTL与非门的静态参数测试 一、实验目的 1.掌握TTL与非门电路主要参数和电压传输特性的测试方法。 2.熟悉数字电路实验箱、数字万用表的使用。 二、实验仪器及器件 1.数字电路实验箱、万用表、示波器。 3.器件：74LS00X 2、电阻：200ΩX1 三、实验预习 复习TTL与非门的逻辑功能、主要参数和电压传输特性。 四．实验原理 TTL与非门电路是目前较为普遍的一种集成门电路。本实验采用四2输入与非门74LS00，即在一块集成块内含有四个互相独立的与非门,每个与非门有2个输入端。其电路图、逻辑符号及引脚排列如图（一）(a)、(b)所示。 图（一） 对于使用集成电路者来说，所关心的是集成门电路从导通到截止所需要的转换条件其所表现出来的转换特性，诸如开门电平、输出高电平、输出低电平等这样一些静态参数，以及诸如平均传输延迟时间一类动态参数的测量，与非门电路的转换特性（电压传输特性）曲线，它表示输入由低电平变到高电平时输出电平的相应变化，所有这些都是选择和设计电路所必须了解的。 五．实验内容 1、低电平输出电源电流ICCL和高电平输出电源电流ICCH及静态平均功耗： 与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。 ICCL：指所有输入端悬空，输出端空载时，电源提供器件的电流。也称空载导通电流。测试电路如图（二）（a）） ：为电路空载导通功耗POn和空载截止功耗POff的平均值。其值为： （通常POn＞POff） 图（二） 2、输入短路电流IIS和输入漏电流IIH： IIS（或IIL））） 图（三） （3）输出高电平UOH及关门电平Uoff 测量电路如图（四）（a）所示。先调W，使输入电压为0V这时输出电压即为UOH。然后渐渐增大输入电压，当输出电压下降90%UOH时，测得输入电压即为关门电平Uoff。 （4）输出低电平UOL及开门电平Uon 测量电路如图（四）（b）所示。先调W，使输入电压为高电平，测得的输出电压即为UOL。然后渐渐减小输入电压，测得使输出电压维持在UOL的最低输入电平，即为开门电平Uon。 2、测试TTL与非门的电压传输特性： 图（四）（b）去掉RL即为测量电路。调W，使输入电压由小到大，用万用表对应地测出输入电压和输出电压，并一一记录在表（一）中。表（一 ）只作参考，测量时，对VOff和VON的附近，输入电压的变化可取小一些。即测量点取密一些。 表（一） ui(V) 0 0.2 0.4 0.6 0.8 1 1.5 2 2.5 3 3.5 4 … uo(V) 3、平均传输延迟时间tpd tpd是衡量门电路开关速度的参数，它是指输出波形边沿的0.5Vm至输入波形对应边沿0.5Vm点的时间间隔，如图（五）（a）所示。 图（五）(a)中的tpdL为导通延迟时间，tpdH为截止延迟时间，平均传输延迟时间为： tpd的测试电路如图（五）(b)所示，由于TTL门电路的延迟时间较小，直接测量时对信号发生器和示波器的性能要求较高，故实验采用测量由奇数个与非门组成的环形振荡器的振荡周期T来求得。 其工作原理是：假设电路在接通电源后某一瞬间，电路中的A点为逻辑“1”，经过三级门的延迟后，使A点由原来的逻辑“1”变为逻辑“0”；再经过三级门的延迟后，A