JUNO分立器件测试系统DTS-1000.pdf

Juno DTS-1000 硬件系统说明书 JUNO 分立器件测试系统DTS-1000 硬件部分测试系统 测试说明书 1 Juno DTS-1000 硬件系统说明书 目录 1 概要 1.1 外型尺寸 1.2 DTS-1000 测试系统的特点 1.3 规格 2 系统组成部分名称及功能 2.1 TPU-1000 电源装置 2.2 DTS-1000 测试主机 2.3 HD-1XXX 测试接口盒 3 系统各组成之间的连接 3.1 标准系统 4 分选机(Handler)/探针台 （Prober ）的接口(I/F) 4.1 DTS-1000I/F 回路图 4.2 输入信号(TEST START 等) 4.3 输出信号(TEST END、BIN 信号等) 4.4 TEST END、分类信号的极性和种类的设定(SWI) 4.5 电源、接地的设定 4.6 插座(CONNECTOR)各信号端(PIN)定义 4.7 信号时序图 5 DTS-1000 内部线路板间的连接方式 6 DTS-1000 内部各线路板(PCB)间介 6.1 DTS-1000(板子装配图) 6.1.1 PCB-0001 MAIN BOARD 6.1.2 PCB-0002 HIGH VOLTAGE SUPPLY BOARD 6.1.3 PCB-0003 CPU BOARD 6.1.4 PCB-0004 A/D 、D/A BOARD 6.1.5 PCB-0005 DATA CONTROL BOARD 6.1.6 PCB-0026 DETECTOR BOARD 6.1.7 PCB-0025 LV GEN BOARD 6.1.8 PCB-0008 HV GEN BOARD 6.1.9 PCB-0027 STATON I/F BOARD 6.1.10 PCB-0010 HANDER I/F BOARD 6.2 HD-1200 6.2.1 HD-0028 HEAD AMP BOARD 7 特殊功能使用 7.1 测试时间的设定 7.2 在测器件(D .U .T )各端子间的条件设定 7.3 积分回路 7.4 OSC 测量回路 2 Juno DTS-1000 硬件系统说明书 概要 DTS-1000 系统测试机通过与分选机、探针台连接，可实现半导体分立器件的高速测试、分 选，该系统可测器件包括晶体管、场效应管(MOS-FET)、二极管(Diode) 、稳压管二极管 (Zener)，通过增加选件(Option)可测试可控硅(SCR)、稳压管(3Terinal Regulater、,Shunt Regulator) 、放电管(TVS)等等。系统具有良好的扩展性，电压可扩展最大到3000 伏 （V ）， 电流最大到200 安 （A ）。并且系统配置灵活，可为不同客户进行最经济的系统配置。为客 户特殊器件专门设计软、硬件。可将测试数据转换成EXCEL 格式，方便客户进行数据交换。 测试系统由测试主机DTS-1000、测试接口盒HDXXXX 及控制用电脑PC 构成。 测试主机中包括器件的偏置部分、测量部分，C