实验一TTL集成逻辑门功能与参数测试.docxVIP

实验一 TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法掌握TTL器件的使用规则进一步熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法二、实验原理本实验采用双四输入与非门74LS20，即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。其逻辑框图、符号及引脚排列如图1(a)、(b)、(c)所示。（a）(c) 图1 74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（即有“0”得“1”，全“1”得“0”。）其逻辑表达式为 Y＝TTL与非门的主要参数 (1) 输出低电平VOL：输出低电平是指与非门的所有输入端都接高电平时的输出电平值。测试电路如图2（a）所示。（2）输出高电平 VOH：输出高电平是指与非门有一个以上输入端接低电平时的输出电平值。测试电路如图2（b）所示。（a）（b）图2 VOH、VOL测试电路图图5 传输特性测试电路三、实验设备与器件 1、+5V直流电源 2、逻辑电平开关 3、逻辑电平显示器 4、直流数字电压表 5、直流毫安表 6、直流微安表 7、74LS20×2、1K、10K电位器，200Ω电阻器(0.5W) 四、实验内容在合适的位置选取一个14P插座，按定位标记插好74LS20集成块。第2 页共5 页1、74LS20主要参数的测试 (1)分别按图2、3、4、6(b)接线并进行测试，将测试结果记入表2中。表2 VOH(V) VOL(V) 4.39 0.12 (2)接图5接线，调节电位器RW，使vi从OV向高电平变化，逐点测量vi和vO的对应值，记入表3中。表3 Vi(V) 0 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 … VO(V) 4.39 4.39 4.39 4.37 4.11 2.08 0.12 0.12 0.12 0.12 0.12 0.12 2．验证TTL集成与非门74LS20的逻辑功能（1）通过测试与非门输出电压进行验证。按图7接线，与非门的四个输入端接逻辑开关输出插口，以提供“0”与“1”电平信号，开关向上，输出逻辑“1”，向下为逻辑“0”。用万用表测量与非门的输出端电压。按表4的五种情况逐个验证集成块中两个与非门的逻辑功能。将所测电压填入表4右端。74LS20有4个输入端，有16个最小项，在实际测试时，只要通过对输入1111、0111、1011、1101、1110五项进行检测就可判断其逻辑功能是否正常。表4 输入输出AnBnCnDnY1（V）1 1 1 1 0.12 0 1 1 1 4.39 1 0 1 1 4.36 1 1 0 1 4.39 1 1 1 0 4.39 图7 测电压验证与非门逻辑功能逻辑图(2) 通过观察与非门输入输出电压波形进行验证。+5V +5V (a) （b) 图8 测波形验证与非门逻辑功能图分别按图8(a)、(b)接线，将其中一个输入端接信号发生器TTL方波（频率为1kHz），用示波器观察两种电路的输入输出波形，记录于图9(a)、(b)。 (a) 第4 页共5 页6(0.000000,4.400000)420-1012345678910t/ms (b) 图9波形图