实验一集成逻辑门的逻辑功能与参数测试.docVIP

实验一　集成逻辑门的逻辑功能与参数测试 　　一、实验目的 　　1、掌握TTL、CMOS集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法 　　2、掌握TTL、CMOS器件的使用规则 3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法 　　二、实验原理 TTL集成与非门：双四输入与非门74LS20 图2－1 74LS20逻辑符号及引脚排列 CMOS集成与非门四二输入与非门CD4011 1、与非门的逻辑功能：有“0”得“1”，全“1”得“0”。 其逻辑表达式为 2、与非门的主要参数 　 (1)低电平输出电源电流ICCL和高电平输出电源电流ICCH ICCL是指所有输入端悬空，输出端空载时，电源提供器件的电流。ICCH是指输出端空截，每个门各有一个以上的输入端接地，其余输入端悬空，电源提供给器件的电流。 (a) (b) (c) (d) 图2－2与非门静态参数测试电路图 　 (2)低电平输入电流IiL和高电平输入电流IiH。IiL是指被测输入端接地，其余输入端悬空，输出端空载时，由被测输入端流出的电流值。IiH是指被测输入端接高电平，其余输入端接地，输出端空载时，流入被测输入端的电流值。 　 (3)扇出系数NO 　　扇出系数NO是指门电路能驱动同类门的个数，它是衡量门电路负载能力的一个参数。 (4)电压传输特性 门的输出电压vO随输入电压vi 而变化的曲线vo＝f(vi) 。 图2－3 传输特性测试电路 (5)平均传输延迟时间tpd 三、实验设备与器件 1、+5V直流电源 2、逻辑电平开关 3、逻辑电平显示器 4、直流数字电压表 5、直流毫安表 6、直流微安表 7、74LS20×2、CC4011、1K、10K电位器，200Ω电阻器(0.5W) 四、实验内容 （一）TTL集成门 验证TTL集成与非门74LS20的逻辑功能 输　　入 输 出 A B C D Y1 Y2 1 1 1 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 1 0 2、74LS20主要参数的测试 (1)分别按图2－2接线并进行测试，将测试结果记入表中。 ICCL (mA) ICCH (mA) IiL (mA) IOL (mA) 　　(2)接图2－4接线，调节电位器RW，使vi从OV向高电平变化，逐点测量vi和vO的对应值，记入表中。 Vi(V) 0 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 … VO(V) （二）CMOS集成门 CMOS与非门CC4011参数测试（方法与TTL电路相同） (1)测试CC4011一个门的ICCL，ICCH，IiL，IiH (2)测试CC4011一个门的传输特性（一个输入端作信号输入，另一个输入端接逻辑高电平） 2、验证CMOS各门电路的逻辑功能。 验证与非门CC4011、与门CC4081、或门CC4071及或非门CC4001逻辑功能 输 入 输 出 A B Y1 Y2 Y3 Y4 0 0 0 1 1 0 1 1 3、观察与非门、与门、或非门对脉冲的控制作用。 选用与非门按图3－2(a)、(b)接线，将一个输入端接连续脉冲源（频率为20KHz），用示波器观察两种电路的输出波形，记录之。 然后测定“与门”和“或非门”对连续脉冲的控制作用。 (a) (b) 图3－2 与非门对脉冲的控制作用