CD-R光盘产品常规检测参数和说明.doc

CD-R光盘产品常规检测参数与说明 清华大学光盘国家工程研究中心主 任徐端颐 教授指出，目前市面销售的 CD-R 光盘的分级标准是生产厂商各自制定的，即所谓的 A 、 B 、 C 级，均是厂家各自的品质标准。在裸盘下生产线的时候，通过外观检验、几何检验、刻录兼容性和刻录品质检验等工序，就分出 A 、 B 、 C 级盘片，一般厂商的 A 级盘片用来给重大的 OEM 客户和自有品牌交货， B 、 C 级盘片用来出给小 OEM ，或者做白标盘处理。所以，选择和评价 CD-R 盘片，不能只看其标称等级，而应看其技术指标及测试标准。 由清华大学光盘国家工程研究中心起草的《可记录光盘（ CD-R ）常规检测参数》，已成为中华人民共和国新闻出版行业标准（ GY/T 38-2001 ），并于 2002 年 1 月 1 日实施。该标准规定了可记录光盘（ CD-R ）常规检测参数，适用于可记录光盘（ CD-R ）产品的质量检测。该标准 目前制定的技术指标及测试标准最高的为 A+ 级盘片，而没有所谓的 A++ 或 A+++ 级。 ? 第一部分：光盘基本信息与检测标准 ??盘片信息 光盘的信息区含有预刻槽，预刻槽含有恒线速度 CLV 时钟信息、时间编码和其他相关信息。部分记录盘的信息区分为以下部分：功率校准区 PCA 、程序记忆区 PMA 、导入区 LIA 、程序区 LOA 和未记录区 URA 。 ??常规检测参数 常规检测参数分为两大类。一类是 CD-R 机械尺寸检测参数（表一）；另一类是 CD-R 光电参数检测参数。本文主要介绍光电参数检测参数。 CD-R 光电检测参数分为以下三类 ??全部区域参数 偏心 ECC 、 径向躁声 RN 、垂直偏差 DEV 、盘片双折射率 BIR 、盘片不平衡度 U d, ； ??未记录区参数 归一化摆动幅度 NWA 、 ATIP 错误率 ATER 、 ATIP 突发错误长度 ABERL 、记录前径向对比度 RC b ； ??记录区参数 圆偏振光测量的推挽信号 PPC 、串扰 XT 、记录后径向对比度 RC b 、归一化高频信号 I 11 R 、归一化高频信号 I 3 R 、对称性 SYM 、反射率 R top 、块错误率 BLER 、 C1 帧突发错误长度 BERL ，抖晃 JnP （ L ）、以及长度偏差 DnP 和 DnL 。 标准还规定了寿命检测的条件，是指盘片在温度 55℃ 、相对湿度 50% 的加速老化条件下放置 96h ，性能参数仍须本标准规定。 ??检测条件和检测仪器 ??检测环境 除非特殊说明，光盘的测试应在下列条件下进行：温度： 15℃ ～ 35 ℃ ；相对湿度： 45% ～ 75% ；大气压力： 86kPa ～ 106kPa 。测试前存储于此环境下不少于 24 小时，不允许在盘片上出现冷凝现象。 ??该标准还规定上各项参数的检测应在一倍速下进行（读） ??检测仪器：采用国家质量技术监督部门指定的仪器进行可记录光盘（ CD-R ）的检测。 该标准规定了我国可记录（ CD-R ）常规检测参数的检测依据、条件及检测仪器。只有依据该标准规定的检测条件和检测仪器，来进行检测，才可能对 CD-R 光盘质量做出准确的结论。 第二部分：常规检测参数与质量控制 ??基本检测参数 1 、偏心： 偏心 ECC 为全部区域参数之一。偏心是盘片中心孔的几何中心相对盘片信息道 / 预刻槽的几何中心的偏差。单位一般用 um 表示。 在驱动器中光学头读取信息时，轨道跟踪伺服机构使光学头在半径方向快速移动，跟随轨道读出信息。径向跟踪伺服机构的跟踪能力和频率响应有一定的范围。光学头的惯性又会限制伺服机构的反应速度，偏心值太高会影响光学头的轨道跟踪。《红皮书》规定 CD-DA 唱盘的偏心指标范围是 + 70um ，《黄皮书》规定 CD-ROM 的偏心指标范围是 + 50um 。这是因为 CD-ROM 的随机访问情况比 CD 多。偏心值高，轨道搜索困难，随机访问情况时间增加。事实上以上指标是在一倍速的情况下制定的，目前的光盘读写速度往往是几十倍速（如 8X 、 12X 、 16X 、 24X 、 32X 、 48X 、 52X 等）在驱动器跟踪能力不变的情况下，意味着速度每增加一倍，偏心指标要求缩小一倍。因此， CD-R 生产厂必须重视盘片的偏心指标，努力使偏心值降到最小，以适应高速读写盘片的要求。 CD-R 盘片的偏心的产生往往是由于压模（ Stamper ）的偏心，因此，控制压模（ Stamper ）的偏心至关重要。 该标准规定 CD-R 盘片的偏心 ECC 的指标范围是 + 50um 。偏心的测量方法是：盘片转速控制在一倍速线速度，在道跟踪开环条件下，盘片旋转一周，推挽信号与地电平