高速电路设计中过孔对信号完整性影响的研究.pdfVIP

Vol. 36 No.6 核电子学与探测技术 第36 卷第6 期 2016 年 6 月 Nuclear Electronics Detection Technology June. 2016 高速电路设计中过孔对信号 完整性影晌的研究 胡佳栋，李诚，曹苗，刘树彬，安琪 (1.核探测与核电子学国家重点实验室，中国科学技术大学，合肥 230026; 2. 中国科学技术大学近代物理系，合肥23∞26) 摘要:随着信号的频率越来越高，高速电路设计中过孔对信号完整性的影响越来越不可忽视，实测 带过孔的PCB 走线的S 参数发现过孔对系统信号完整性有比较大的影响。通过ANSYS 仿真软件及理 论计算对此进行了研究，发现过孔对信号完整性的影响主要源于两方面:过孔的寄生参数和内电层平面 的谐振。减少信号走线中过孔的使用、调整过孔的位置以及消除谐振能有效改进高速电路的信号完整 性。论文通过ANSYS 仿真以及PCB 实测验证了这些方法的有效性。 该结论对高速电路设计有参考意 义。 关键询:PCB 过孔;内电层谐振;高速电路设计:信号完整性 中图分类号: TN 710 文献标志码: A 文章编号: 但58明34(2016 )6-0596-06 1.1 S 参鼓 高速电路设计中，随着信号频率越来越高， 信号完整性对电路性能提升有着决定性影响。 对于一个二端口的 DUT( 如图 1 所示) ，其 S 参数定义为: 过孔作为 PCB 设计中一种常用的结构，其对信 S21(SI2):端口 2(1)匹配时，端口 1(2) 到 号完整性的影响会随着电路速度的提高逐渐凸 显出来，变得不可忽视。因此本文就过孔对信 端口 2(1)的传输系数，又称插损; 号完整性的影响进行了详细的研究。 Sl1 (S22) :端口 2(1)匹配时，端口 1(2) 的 反射系数，又称回波损失; 1 过孔对信号完整性的影晌 于 1 DUT I 专 (:)=(;;:33 一个系统的信号完整性可以通过输入和输 ~一 I I 一一~ 出的信号之间的关系来进行评估。 S 参数包含 了 DUT( Device under test ，待测器件)的输入和 图 1 二端口 DUT 的 S 参数 因此，DUT 的S 参数矩阵可以用人射波的 输出信号的幅度和相位关系，因此可以反映系 电压复矢量α1 、向和反射波的电压复矢量 b 、 统的信号完整性。本文通过S 参数的仿真和测 l b S