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- 2017-06-04 发布于湖北
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attenuated total internal reflectance FTIR
attenuated total internal reflectance FTIR
衰减全反射傅里叶变换红外光谱技术(aatttteennuuaatteedd ttoottaall iinntteerrnnaall rreefflleeccttaannccee FFTTIIRR,
ATR-FTIR
ATR-FTIR
AATTRR--FFTTIIRR)
将样品与全反射棱镜紧密贴合,当入射角大于临界角时,入射光在进入光疏介质(样品)
一定深度时,会折回射入全反射棱镜中(图1),射入样品的光线会由于样品的吸收,有所
衰减,不同波长范围衰减程度不同,与样品的结构有关。记录其衰减随波长的变化即得到衰
减全反射光谱。衰减全反射红外光谱为一些无法用常规红外透射测量的样品,如涂料、橡胶、
塑料、纸、生物样品等提供了制样摄谱技术。
Figure1.AmultiplereflectionATR system
1 测试原理
衰减全反射(attenuatedtotal reflectance,ATR) 是一种检测样品表面信息的技术, 检测
深度为5nm 左右,非常适合于羊毛表面鳞片的研究。其工作原 理为:把透明的高折射率(n )
1
的全反射棱镜夹在两块低折射率(n )的样品之间,让某一频率连续变换的红外光线以一定角
2
度入射,当入射角(θ)大于临界角时,入射光在透入光疏介质(样品)一定深度后, 会折回射
入全反射棱镜中。进入样品的光,在样品有吸收的频率范围内光线会被样品吸收而强度衰减,
在样品无吸收的频率范围内光线被全部反射。光线在棱镜与样品的界面上发生多次吸收与反
射,也即光线的强度发生多次衰减,最后带有样品信息的红外光线射出棱镜,进入检测器。
全反射光谱的峰形和频率与透过光谱一致,但峰的强度分布与透过光谱有明显的差异,
即高波数 段峰的强度减弱, 低波数段峰强度与透过光谱相似,这些强度分布是有规律的,
它遵循全反射工作原理的下述公式[2]
2 2 1/2
dp=λ/2π(Sin θ-n )
1 21
式中:λ 是光线在内反射棱镜材料(光密介质)中的波长,它与入射光波长λ的关系是
1
λ =λ/ n ,n 是内反射棱镜材料的折射率。θ为入射角,在全反射工作中入射角必须大于
1 1 1
临界角。n 是样品折射率n 与n 之比,dp是光透入样品的垂直深度,称穿透深度。
21 2 1
从上式可以看出,与光谱吸收强度直接相关的dp值取决于λ 、θ和n ,对已选定的
1 21
全反射棱镜 材料和样品(即n21已定)而言,穿透深度dp主要取决于入射角θ,入射角增大,
Sinθ趋向于1,n / n 永远小于1,故分母值趋大,dp值减小。就已选定的入射角(θ已定)
2 1
和样品(n 已定)而言,全反射棱镜材料的折射率n 越大,n /n 值趋小,穿透深度dp下降。
2 1 2 1
故在同一样品,相同入射角时,使用KPS-5全反射棱镜(n1=2138)得到的光谱相对较 强,
而同样反射次数相同的锗棱镜(n = 4) 的光谱,其吸收
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