基于MAP-200的插入损耗回波损耗测试解决方案-Viavi.PDFVIP

基于 MAP-200 的 插入损耗/回波损耗测试 解决方案 包含 PCT 应用程序环境的 mORL/mIL 光学连接解决方案（光连接器、结构化布线、分光器和外面的 主要优势 外壳）是连接密集的中央办公室、数据中心和光配送网络的核 � 生产效率提高 4 倍 心。除电信、数据通信、无线回程和 FTTx 外，还出现了新的 � 与其他解决方案相比只需要 25% 的空间 � 可扩展到新的高速增长、高性能应用中，例 超级计算应用，并且航海、航空和军事应用也不断增长。所有 如 40/100 G 数据中心市场 这些市场都对带宽有着更高的需求。出于降低安装成本和快速 � 模块化平台可在需求增长和预算允许的情况 部署等需求，市场上出现了新型连接器格式。 下进行扩展 � 端口映射可在 15 秒内验证多纤芯 MPO 模块 盒的连通性和极性 但这些连接点的质量和光学性能却经常被忽视。较差的插入和回波损耗（IL 和 RL）会对网络性 能产生长期严重的影响。性能差会直接影响传送率和可靠性，甚至会妨碍技术升级。同时，经 � 完全支持高速增长的 MPO 和 MTP 多纤芯连 接器 济因素要求制造商继续降低成本、加速生产并加快上市时间。 应用 � 测试光连接器和线缆组件、结构化光缆方案 以及分光器的IL/RL和长度 � 自动测试多纤芯组件，例如 MPO � 单模和多模光纤设备的解决方案 � 验证大型多纤芯组件的连通性和极性 � 测量线路板卡和插口式收发器的 RL 安全特性 � MAP-200 机箱中安装的 MAP mORL-A1 和 MAP mIL-A2 模块符合 CE、CSA/UL/IEC61010-1 和 LXI C 类要求 产品说明 Viavi 无源组件/连接器测试解决方案(PCT)由一组功能强大的模块、软件 和外围设备组成，可测试光连接产品的 IL、RL、物理长度以及极性。利 用 Viavi MAP-200 平台的模块化和互连性，PCT 可用于 研发、生产或鉴定 试验场合，并支持处理从单模到 OM1 和 OM4 的所有主要光纤类型的测试 问题。 以下各节将