过采样技术提高ADC分辨率1基本原理.PDFVIP

过采样技术提高 ADC 分辨率 1 基本原理 ADC 转换时可能引入很多种噪声，例如热噪声、杂色噪声、电源电压变化、参考电压变化、由采样时钟抖 动引起的相位噪声以及由量化误差引起的量化噪声。有很多技术可用于减小噪声，例如精心设计电路板和在参考电压 信号线上加旁路电容等，但是 ADC 总是存在量化噪声的，所以一个给定位数的数据转换器的最大 SNR 由量化噪声定 义。在一定条件下过采样和求均值会减小噪声和改善 SNR，这将有效地提高测量分辨率。过采样指对某个待测参数， 进行多次采样，得到一组样本，然后对这些样本累计求和并对这些样本进行均值滤波、减小噪声而得到一个采样结果。 由奈奎斯特定理知：采样频率 fs 允许重建位于采样频率一半以内的有用信号，如果采样频率为 40kHz ，则频率低于 20kHz 的信号可以被可靠地重建和分析。与输入信号一起，会有噪声信号混叠在有用的测量频带内（小于 fs/2 的频率 成分）： erms 是平均噪声功率，fs 是采样频率，E(f)是带内 ESD 。 方程 1 说明信号频带内的噪声能量谱密度 ESD 或被采样噪声的噪声平面随采样频率的增加而降低。