FreeKaoYan第三章作业.docVIP

选择题 1.最常用的X射线衍射方法是（ ）。 A. 劳厄法；B. 粉末多法；C. 周转晶体法；D. 德拜法。 2.德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是（ ）。 A. 正装法；B. 反装法；C. 偏装法；D. A+B。 3.德拜法中对试样的要求除了无应力外，粉末粒度应为（ ）。 A. 325目；B. 250目；C. 在250-325目之间；D. 任意大小。 4.测角仪中，探测器的转速与试样的转速关系是（ ）。 A. 保持同步1﹕1 ；B. 2﹕1 ；C. 1﹕2 ；D. 1﹕0 。 5.衍射仪法中的试样形状是（ ）。 A. 丝状粉末多晶；B. 块状粉末多晶；C. 块状单晶；D. 任意形状。 正误题 1.大直径德拜相机可以提高衍射线接受分辨率，缩短暴光时间。（ ） 2.在衍射仪法中，衍射几何包括二个圆。一个是测角仪圆，另一个是辐射源、探测器与试样三者还必须位于同一聚焦圆。（ ） 3.选择小的接受光栏狭缝宽度，可以提高接受分辨率，但会降低接受强度。（ ） 4.德拜法比衍射仪法测量衍射强度更精确。（ ） 5.衍射仪法和德拜法一样，对试样粉末的要求是粒度均匀、大小适中，没有应力。（ ） 填空题 在粉末多晶衍射的照相法中包括德拜法、聚焦法和平板照相法。 德拜相机有两种，直径分别是Φ57.3和Φ114.6mm。测量θ角时，底片上每毫米对应2o和1o。 衍射仪的核心是测角仪圆，它由试样台、辐射源和探测器共同组成。 可以用作X射线探测器的有正比计数器、闪烁计数器和Si（Li）半导体探测器等。 影响衍射仪实验结果的参数有狭缝宽度、扫描速度和时间常数等。 名词解释 偏装法—— 光栏—— 测角仪—— 聚焦圆—— 正比计数器—— 光电倍增管—— 习题： CuKα辐射（λ=0.154 nm）照射Ag（f.c.c）样品，测得第一衍射峰位置2θ=38°，试求Ag的点阵常数。 试总结德拜法衍射花样的背底来源，并提出一些防止和减少背底的措施。 粉末样品颗粒过大或过小对德拜花样影响如何？为什么？板状多晶体样品晶粒过大或过小对衍射峰形影响又如何？ 试从入射光束、样品形状、成相原理（厄瓦尔德图解）、衍射线记录、衍射花样、样品吸收与衍射强度（公式）、衍射装备及应用等方面比较衍射仪法与德拜法的异同点。 衍射仪与聚焦相机相比，聚焦几何有何异同？ 从一张简单立方点阵物的德拜相上，已求出四根高角度线条的θ角（系由CuKα所产生）及对应的干涉指数，试用“a-cos2θ”的图解外推法求出四位有效数字的点阵参数。 HKL 532 620 443 541 611 540 621 θ.角 72.08 77.93 81.11 87.44 根据上题所给数据用柯亨法计算点阵参数至四位有效数字。 用背射平板相机测定某种钨粉的点阵参数。从底片上量得钨的400衍射环直径2Lw＝51.20毫米，用氮化钠为标准样，其640衍射环直径2LNaCl＝36.40毫米。若此二衍射环均系由CuKαl辐射引起，试求精确到四位数字的钨粉的点阵参数值。 试用厄瓦尔德图解来说明德拜衍射花样的形成。 同一粉末相上背射区线条与透射区线条比较起来其θ较高还是较低？相应的d较大还是较小？既然多晶粉末的晶体取向是混乱的，为何有此必然的规律 衍射仪测量在人射光束、试样形状、试样吸收以及衍射线记录等方面与德拜法有何不同？ 测角仪在采集衍射图时，如果试样表面转到与入射线成30°角，则计数管与人射线所成角度为多少？能产生衍射的晶面，与试样的自由表面呈何种几何关系？ Cu Kα辐射（λ＝0.154 nm）照射Ag（f.c.c）样品，测得第一衍射峰位置2θ=38°，试求Ag的点阵常数。 试总结德拜法衍射花样的背底来源，并提出一些防止和减少背底的措施。 图题为某样品德拜相（示意图），摄照时未经滤波。巳知1、2为同一晶面衍射线，3、4为另一晶面衍射线．试对此现象作出解释． 粉未样品颗粒过大或过小对德拜花样影响如何？为什么？板状多晶体样品晶粒过大或过小对衍射峰形影响又如何？ 试从入射光束、样品形状、成相原理（厄瓦尔德图解）、衍射线记录、衍射花样、样品吸收与衍射强度（公式）、衍射装备及应用等方面比较衍射仪法与德拜法的异同点。 衍射仪与聚焦相机相比，聚焦几何有何异同？