利用近红外透射光谱技术测定小麦籽粒硬度的研究-作物学报.PDF

第 30 卷 第 5 期 作 　物 　学 　报 Vol. 30 , No. 5 2004 年 5 月 　455～459 页 ACTA AGRONOMICA SINICA pp. 455～459 　May , 2004 利用近红外透射光谱技术测定小麦籽粒硬度的研究 陈　锋1 ,2 　何中虎1 ,3 , 　崔党群2 ( 1 中国农业科学院作物育种栽培研究所/ 国家小麦改良中心,北京 100081 ;2 河南农业大学农学院遗传育种系 ,河南郑州 450002 ; 3 国际玉米小 麦改良中心中国办事处 ,北京 100081) ( ) 摘　要 　以2001 和 2002 年度 583 份小麦样品为材料 ,用近红外透射光谱仪 NITS 对小麦籽粒硬度进行分析 , 比较了偏 最小二乘法和多元线性回归两种算法和未经导数处理、一阶导数处理、二阶导数处理 3 种光谱变量转换方式的分析结 果。表明 ,两种算法中偏最小二乘法优于多元线性回归算法 ,3 种处理方式中一阶导数处理效果最好 ,其定标集和预测 集决定系数明显高于其他两种处理方式 ,而标准误差低于其他两种方式。经一阶导数处理后采用偏最小二乘法建立的 定标模型时 ,可有效地对小麦籽粒进行硬度分级 ,其中 ,硬麦分级准确率为 90 % ,软麦分级准确率为 83 % ,混合型分级准 确率为 63 % 。这有助于品质快速检测和育种早代的品质筛选。 关键词 　近红外透射光谱技术 ;定标模型 ;普通小麦 ;硬度 中图分类号: S511 Measurement of Wheat Hardness by Near Infrared Transmittance Spectroscopy CHEN Feng1 ,2 ,HE ZhongHu1 ,3 , ,CUI DangQun2 (1 Institute of Crop Breeding and CultivationNational Wheat Improvement Center , ChineseAcademy of Agricultural Sciences , Beijing 100081 ; 2 Department of Genetic and Breeding , Agriculture College , Henan Agriculture University , Zhengzhou 450002 , Henan ; 3 CIMMYT China Office , Beijing 100081 , China) Abstract 　583 samples of wheat cultivars from major wheat production area collected in 2001 and 2002 seasons were used ( ) to measure kernel hardness by near infrared transmittance NIT spectroscopy Two algorithms , ie partial least squares and multiple linear regression , and three variable transformations , ie log 1T , first derivative of log 1T and second deri vative of log 1T , were compared for hardness testing Results showed that the partial least sq