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平面型2.6μmInGaAs红外探测器变温特性研究 - 激光与红外.PDF

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平面型2.6μmInGaAs红外探测器变温特性研究 - 激光与红外

第39卷  第6期                  激 光 与 红 外 Vol.39,No.6   2009年6月                LASER & INFRARED June,2009   文章编号:10015078(2009)06061206 ·红外材料与器件 · 平面型2.6mInGaAs红外探测器变温特性研究 μ 1,2 1,2 1,2 1,2 1,2 1 1 李永富 ,唐恒敬 ,张可峰 ,李 淘 ,宁锦华 ,李 雪 ,龚海梅 (1.中国科学院上海技术物理研究所传感技术国家重点实验室,上海200083;2.中国科学院研究生院,北京 100039) 摘 要:通过闭管扩散方式,在NIN型InP/In Ga As/InP材料上制备了单元及八元平面型红 0.82 0.18 外探测器件,研究了器件的光谱响应特性、变温电流-电压特性以及器件探测率的温度响应特性。 研究表明,不同温度下,在较低的偏压下,器件的正向暗电流的主要成分为源于材料缺陷的产生- 复合电流,随着电压增大,器件的电流将会受到串联电阻的限制而趋于饱和。在近室温(>250K) 下,器件的反向电流主要以扩散电流和产生-复合电流为主,随着温度降低(<158K),与偏 压成正比的隧穿电流将占优势。温度>158K时,器件的RA值主要受产生-复合机制影响, 0 温度<158K时,RA值则受缺陷辅助遂穿机制限制。随着温度的降低,器件的峰值探测率在 0 9 1/2 9 1/2 210K达到峰值,单元器件约1.7×10cmHz/W,八元器件约9.4×10cmHz/W。 关键词:InGaAs红外探测器;产生-复合电流;隧穿电流;暗电流;优值因子;峰值探测率 中图分类号:TN214   文献标识码:A Temperaturedependentcharacteristicsstudyof2.6m μ planartypeInGaAsinfrareddetector 1,2 1,2 1,2 1,2 1,2 1 1 LIYongfu ,TANGHengjing ,ZHANGKefeng ,LITao ,NINGJinhua ,LIXue,GONGHaimei (1.StateKeyLaboratoriesofTransducerTechnology,ShanghaiInstituteofTechnicalPhysics,ChineseAcademyofSciences, Shanghai200083,China;2.GraduateSchooloftheChineseAcademyofSciences,Beijing100039,China) Abstract:TheplanartypesingleelementalandeightelementalInGaAs2.6 mcutoffwavelengthinf

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