浅谈TLP量测TVS二极体-电子工程专辑.PDFVIP

淺談TLP量測 TVS 二極體 作者：黃正宇 / 台灣英飛凌科技 (Infineon射頻) 及保護元件應用部門經理 在當今競爭激烈的市場，有效的靜電放電(ESD)保護已成為設計一個可靠的系統中不可分割的 一部分。使用者通常會認為因為ESD 造成的電子產品故障是一種不良品並且會增加使用者回 原廠維修的可能性 。ESD 問題也可能會嚴重影響公司的形象與其盈利能力。 可靠的電子產品會在ESD 容易進入點使用保護元件並且通過IEC 61000-4-2 的靜電放電測試。 然而，一些傳統的方法仍依靠嘗試錯誤法來設計 ESD 保護的方法。嘗試錯誤法僅能告知其使 用ESD 保護方法的結果是通過或者是無法通過IEC 61000-4-2 的靜電放電測試，無法提供ESD 保護元件的性能和保護電路電性特性，以進行更有效的設計變更和測試結果的再利用 。 嘗試錯誤法可能需要多個測試循環直到ESD 問題解決，許多重複的ESD 性能測試會增加測試 成本和耽誤到新電子產品上市發表到市場的時間。因此，非常快速的傳輸線脈衝 (Transmission Line Pulse ，TLP) 更顯得是至關重要地選擇適當ESD 保護元件的方法 ，使得嘗試錯誤法不再 被視為唯一的解決方法 。 TLP 量測在搭配傳統ESD 測試結果，可迅速查知電路的設計弱點，減少開發時間並降低開發 成本。非常快的傳輸線脈衝採用高電流脈衝測試以確定保護元件和被保護電路的電壓和電流在 時域的特性 。對於在早期電路設計階段 ，TLP 提供一個快速 、精確和成本最低的可實行實施 策略方法，以提高在系統上的ESD 耐受性，同時可以滿足今天競爭激烈的市場需求 。 TLP 量測系統 在1985年由英特爾(Intel Corporation)的 T. Maloney 和N. Khurana 第一次介紹TLP 量測系統 ， 並在隨後的幾年中不斷地發展。Barth Electronics 在90 年代中期推出第一個商用TLP 系統和介 紹測量系統的概念與校準 。目前已成為電路設計工程師研究ESD 保護電路的特性 、進行ESD 設計和量測ESD 保護元件性能的重要依據。 如圖一所示的簡易脈衝量測設定 ，待測元件(Device under test ，DUT)在短時間的脈衝波形下進 行電壓和電流特性量測 。這種短時間脈衝波形用來模擬作用於DUT 上的IEC 61000-4-2 靜電 放電脈衝。TLP 除了可以了解ESD 保護元件之物理特性外 ，另一方面可以在晶片製作完成初 期，即能先預測產品之靜電放電的承受能力，以降低封裝及測試成本並增加產品的研發效率 。 電壓波形VDUT (t)和電流波形IDUT (t)在DUT 處使用高速數位示波器被單次地記錄 。一般情況 下，整個時域的波形訊息對於了解DUT 瞬態特性是有價值的。 Copyright © 2013 eMedia Asia Ltd. 電子工程專輯網站()所有內容均受版權保護 圖一 簡易脈衝量測設定 尤其用於ESD 保護電路的特性、進行ESD 設計和量測ESD 保護元件性能上，脈衝IV 特性是 很重要的(圖二) 。用於ESD 設計上 ，脈衝IV 特性也稱為TLP 特性。每個電壓和電流波形的平 均值(V 和I)是計算t1 和t2 之間窗口中的平均值 。 圖二 TLP 特性曲線 對於所有脈衝幅度 ，每個電壓和電流波形的平均值被收集在脈衝 IV 特性線圖上。脈衝 IV 特 性線圖上的TLP 電壓V 標示在x 軸和脈衝IV 特性線圖上的TLP 電流I 則是標示在y 軸上 。 此圖也是表示DUT 的IV 特性曲線。 圖三 5V TVS 二極體的TLP 特性曲線 Copyright © 2013 eMedia Asia Ltd. 電子工程專輯網站()所有內容均受版權保護 一般在每個脈衝波形量測後，一個dc 漏電流測量也會緊接著完成，並將dc 漏電流的