一种对微处理器进行控制和数据采集的自动测试系统.pdfVIP

维普资讯 《电工技术杂志》2002年第 4期 一 种对微处理器进行控制和数据采集 的自动测试系统 阎世栋 (广东美的电子科技有限公司 528311) 摘 要 对 MCU处理罂软件功能验证 的常规方案是逐 ．甚输入控戢量 ，再逐点监_删输 出信号 的时序却数值。该测试方案是希望预置一条或多条应用户特殊要求、连续变化的控制 曲线来控制 MCU 曲输八量，再窭时采集 MCU 的输 出口，监测输 出信号连续变化的历史波形 ，真实客观评 价在连续变化 的工况下，程序处理 的稳定性、可靠一胜。 关键词 Labview 控制 曲线 历史溲形 电流 ，该电流通过一 已知电阻，在 电阻两端转为电 1 撅述 压，去豫高频、低频干扰后到达芯片采集 口，就使 对于连续变化的控制 曲线 ，可以通过拟台外部 芯片感应出当前互感器线 圈中穿过的电流变化 ，J 传感器非电量或其他量与芯片采样电压对应变化的 — L，换算关系 自然可 得到。 曲线来完成，利用 PCI6713控制输出到MCU采集 温度 、电流与芯片采样电压的关系知道后 ，就 口即可；同 时．利 用 实时 数据 采集 模 块控 制 要画温度 、电流变化的曲线 ，Labview软件库 中提 PcI砷25E监测各输出通道的历史波形。 供有通过鼠标控制光标画任意波形 曲线的子程序 ， 考察连续变化的控制 曲线对应的输出曲线的时 这个子程序所能达到的功能是在规定的水平 、垂直 序、数值等信息是 MCU处理器软件功能验证行之 范围内按光标拖动的轨迹描绘出一条连续变化的曲 有效的解决方案。而 目前的测试仪器不容易达到连 线 ，而且该程序可以将组成波形的每一点数据逐点 续输出任意波形的曲线 ，纪录历史波形的功能 。通 送人一个一维数组 中，即数组 中每一点对应波形 中 过 Labview平台，可以拟台出与芯片采集口电压变 相应的一点。我们要修改这个程序得初始设定 ，使 化对应 的曲线 ，这些波形数据 以数组结构控制 水平、垂直范围能满足测试要求。本方案中，垂直 PCI6713控制卡逐点向MCU输出，同时软件控制 量代表所画波形控制量的值 ，水平量代表测试时 PCI6025E实时采集输 出 口信息，通过数据收发 ， 间，这样 ，每点代表不同测试时间点对应的控制量 完成对 MCU软件功能的自动测试。 大小。另外一个需要修改的量就是所画波形的每一 点所代表 的物理意义，因为此时仍然是在表示温 2 拟台控制 曲线 度 、电流值 ，只要将这个量代人换算公式 ，就得到 MCU采集 口采集 的是 电压量 ，但 这个 电压量 芯片采样 电压值 ，这个 电压值依次打包进数组中即 的前端可能是一个非 电量 (例如温度传感器、电流 完成画控制波形 曲线的任务 ，使我们在画电流 、温 互感器)，只是有相应电路将其转化为电压量而已。 度控制 曲线时实际画出了对 MCU主芯片的电压控 所 ，首先要利用软件算法描述出温度一电压 、电 制曲线 (如 图 1、图2所示)。 流一电压对应变化 的公式 。由温度传感器原理可 知 ，温度传感器实际是一个热敏电阻，它由温度变 化引起 自身阻值变化。而传感器 电路中，芯片采集 口恰恰就是采集温度传感器与一已知电阻分得的电 压值来感知温度传感器 当前温度变化 ，这样，通过 丁一R、R—u换算公式演绎