表面粗糙度表面光滑度.docVIP

表面粗糙度（表面光滑度） 定义和标识 1. 概述 这份日本工业标准详细说明下述各项的定义和标识：算术平均粗糙度、最大高度、十点平均粗糙度、轨迹光规则性的平均间隔、轨迹局部峰的平均间隔和轨迹承受长度比数，以上是工业产品表面粗糙度表示参数。 备注：与该标准相对应的国际标准如下： ISO 468-1982 表面粗糙度—参数、直数值和一般规则，这是用作解释所需要的。 ISO 3274-1957 轨迹法测量表面粗糙度的仪器——连续轨迹转换用的接点（记录针）仪器——接点轨迹法，M系统。 ISO 4287/1-1984 表面粗糙性——术语第1部分：表面及其参数 ISO 4287/2-1984 表面粗糙性——术语第2部分：表面粗糙性参数的测量 ISO 4288-1985 利用记录针仪器进行表面粗糙性测量的规则和程序 2. 定义和符号 用于该标准的主要术语如下面所作的定义。每项术语之后的括号内为其符号。 （1）算术平均粗糙度的每一个算术平均值（Ra） 十点平均粗糙度（Rz）、轨迹不规则性的平均间隔（Sm）、最大高度（Ry）、表面粗糙度轨迹局部峰的平均间隔（S）和轨迹承受长度比数（tp），上述是表示在一个目标表面随机取样每一部分的表面粗糙度的几种参数（以后称为“目标表面”）