基于IEEE 1500标准的嵌入式ROM及SRAM内建自测试设计.pdfVIP

3O卷 第 7期 微 电子 学 与 计 算 机 Vo1．3O No．7 2013年 7月 MICROELECTRONICS COMPUTER July 2013 基于 IEEE1500标准的嵌入式ROM 及 SRAM 内建 自测试设计 谈恩民，金 锋 (桂林电子科技大学 电子工程与 自动化学院，广西桂林 541004) 摘 要：嵌入式存储器在SOC中所 占的面积比越来越大，同时也对嵌入式存储器测试技术提出了新的挑战．IEEE 1500标准为IP核设计商与集成商制订了标准的测试接 口．基于此标准，本文完成了针对嵌入式存储器的测试外壳 与具有兼容性的控制器的设计，以SRAM和ROM 为测试对象进行验证，测试结果表明，该系统能准确地检测存储 器存在的故障． 关键词：嵌入式存储器；IEEE1500标准；测试外壳；SRAM 和ROM 中图分类号：TP206 文献标识码：A 文章编号 ：1O0O一7180(2O13)07一O115一O5 Built-inSelf-testDesign oftheEmbeddedROM andSRAM Basedon theIEEE 150OStandard TAN En-min，JIN Feng (CollegeofElectronicEngineeringandAutomation，GuilinUniversityofElectronicTechnology，Guilin541004，China) Abstract：Embeddedmemory inS0C occupiedarearatioincreasing，alsopresentednew challengesforembedded memorytesttechnology ．IEEE 1500 standard forIP coreprovidersand integratorstO develop astandard test interface．Thispaperdesignsatestwrapperandcompatibilitycontrollerforembeddedmemory．Thispapervalidates theSRAM andROM astestobject．Andthetestresultsshowthatthesystemcanaccuratelydetecttheexistenceof thefaultoftheembeddedmemory． Keywords：Embeddedmemory；IEEE 1500Standard；W rapper；SRAM andROM 性，提高了测试效率和测试的灵活性，同时也降低了 1 引言 测试的硬件开销． IEEE1500嵌入式核测试标准使得 IP核设计 2 测试壳的设计 商和SOC集成商之间可以通过嵌入式核测试语言 描述的标准模型进行信息传递，使得测试可以重用， 测试壳用于将整个被测 IP核完全封闭起来，使 既提高了测试效率，也保护了嵌入式核提供商的知 之与外界隔离，通过测试壳，IP核可以和测试访 问 识产权不受侵犯_1]．目前已有不少关于 IEEE1500 机制连接起来，并可以将 IP核设置为正常模式、测 的论文，文献 [3]提出了一种基于 IEEE1500标准 试模式、旁路模式等其它模式．测试壳的组成主要 由 的SOC中SRAM 的测试结构，并设计了一种针对 以下几个部分组成，WBR：边界寄存器；WIR：指令 SRAM 的测试机制．文献 [4—5]提出了一种采用特征 寄存器；WBY：旁路寄存器；WSI／WSO：串