信号完整性分析之二.pptVIP

Olica Olica 信号完整性分析方法 SI简介 信号产生基本原理 信号质量测试方法 信号时序测试方法 示波器基础知识 常见的SI问题 SI分析 信号完整性分析实例 电子设计中的SI问题 建模与仿真 信号完整性的仿真例子 带宽和采样率 带宽是指示波器垂直放大器的频率响应 定义为: 信号幅度下降3db.在此频点为示波器的带宽在3db的带宽频率,信号垂直幅度的误差大约为30%. BW=0.42/Tr 采样率是用来衡量示波器采样速度的参数，指示波器在一秒内可以捕获样品的数量，单位是S/S（样点/秒） 例如某示波器的采样率为20GS/S，是指该示波器在一秒内最多可以采集20G个样点。 采样间隔、采样时间和记录长度 示波器所采集的两个相临样点之间的间隔叫采样间隔，它的单位为时间s（ms，us，ns，ps）。采样距离是可以调节的，不同示波器的最大采样间隔和最小采样间隔通常是不一样的； 采样时间是指示波器所采样的显示波形里面的第一个样点到最后一个样点之间的时间间隔，它的单位是s（ms，us，ns，ps）； 记录长度是指在采样时间里所捕获样品的数量，单位是个； 采样距离、采样时间和记录长度 它们之间的关系公式： 采样间隔=分辨率=1/采样率 采样时间=采样间隔 * 记录长度 最大记录长度=采样时间/最小采样间隔 =采样时间*最大采样率 示波器的采样模式 示波器的采样模式有实时采样和等效采样两种。 实时采样是指示波器根据实际采样率，在每个采样波形的上升沿都数字化一个样点作为波形记录点。 等效采样是当系统对采样率的要求很高时，示波器会根据循环采样来满足系统的要求。例如当采样率的要求是最大采样率的N倍时，则示波器会分N个循环来进行采样。 SI简介 信号产生基本原理 信号质量测试方法 信号时序测试方法 示波器基础知识 常见的SI问题 SI分析 信号完整性分析实例 电子设计中的SI问题 建模与仿真 信号完整性的仿真例子 常见的SI问题 在高频系统中时序的重要性 信号质量将直接影响到时序 最常见的三种信号问题： a.反射 b.串扰 c.电源/地 噪音 常见的SI问题 反射产生原因 a.阻抗失配 b.桩线 c.过孔 d.其它连接的不连续性等 常见的SI问题 串扰产生的原因 a.传输线之间的耦合 b.过孔之间的耦合 c.传输线与平面之间的耦合 d.两个平面之间的耦合 常见的SI问题 电源/地 噪音产生的原因 a.SSO----simultaneous switching output 驱动同步输出对电源或者地的寄生效应 又称做对地反弹. b.SSN---- simultaneous switching noise 同步开关噪音或电流变化噪音 常见的SI问题 除此之外,还有两个问题会导致信号波形的失真----EMC/EMI a.EMC----electromagnetic compatibility 电磁兼容 b.EMI----electromagnetic interference 电磁干涉 常见的SI问题 信号完整性问题的影响 当信号完整性存在问题或者系统的噪音余度要求没有达到满足的时候，输入信号在开关接收端到达最小高电平前就或者到达最小低电平前就开始变形，输入信号在静态接收端到达最高低电平前就开始上升或者在到达最小高电平前就开始下降，电源电压的波动也会扰乱锁存中的数据，于是会导致逻辑错误，数据信号变弱，开关错误，甚至导致系统失效。 常见的SI问题 产生SI 问题的地方 典型数字系统环境流程: 硅片驱动?引线接合器?芯片封装?芯片封装焊接点?PCB?另一个系统器件 常见的SI问题 产生SI 问题的地方 源终端，传输过程，接收端。我们最关注的是信号在传输过程中的完整性。 电子工艺的趋向是不断加快芯片运行的速度以及不断提高芯片的集成度从而将芯片的性能推向极限。目前个人电脑中的最快时钟频率已经达到GHz的范围，它的上升时间已经小于200ps，目前看来数字信号的最快频率可以达到10GHz。随着制造工艺的不断发展，逻辑门的长度从20世纪60年代的50us发展到21世纪初的0.18us，目前的流行工艺是0.13us，成熟工艺可以做到0.09us和65ns。 常见的SI问题 产生SI 问题的地方 芯片的时钟频率几乎每过