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光电子 激光 第 卷 第 期 年 月
13 9 2002 9
Journal of Optoelectronics laser ol.13 No.9 Sep. 2002
光栅投影三维轮廓测量及关键技术分析
牛小兵 林玉池 赵美蓉 程冬梅 蒋诚志
(天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 天津 300072D
摘要 说明了光栅投影三维测量技术的原理 就国内外的研究和应用状况 对三维测量中的关键技术 如:
相位测量 解相位 数据配准和拼接 系统结构的调整和标定等进行了分析综述
O
关键词 三维轮廓测量 光栅投影 相位测量 叠相还原 配准拼接 标定:
中图分类号: 247 文献标识码: 文章编号:1005-00SG(2002D09-09S3-04
TN A
3 D Profilometry measurement using Grating Projection and Key tech
nigues analysis
- - - - -
NIU Xiao bing lIN Yu chi ZHAO Mei rong CHENG Dong mei JIANG Cheng hi
(State key laboratory of Precision Measuring Technology and Instruments Tianjin University Tianjin
300072 ChinaD
: 3- .
abstract The principles of D measurement are reviewed briefly first On the basis of current research
and application some key techni Gues including phase demodulation phase unwrapping physical disconti-
nuities data registration and connection and system optimi ation and calibration are inverstigated in de-
tail.
Key :3-
Iords D profilometry measurement Grating projection Phase demodulation Phase unwrap-
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