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TecnaiG230FEI公司的传输电子显微镜
产品数据
Tecnai™ G2 30
通用性和性能的基准
Tecnai G2 30 具有无与伦比的任务导向型用户界面,是最先进的300 kV 透射电子
显微镜。其在 Windows®
XP 操作系统下运行,可在个人环境中提供卓越性能,并
具有通用性、高生产效率和易用性等特点。众多可安装到这些系统的附件,如
STEM、CCD 相机、EDX 和EELS 探测器以及能量过滤器,均被置入用户界面,可令
拥有不同经验的操作者借助一致的用户界面充分利用系统的各项功能。
Tecnai G2 30 的300 kV 电子束可提供较之200 kV TEM 更高分辨率的指定物镜几
何、更高的射束电流和更好的样品穿透效果。数分钟内更改高电压值的灵活性有
助始终保持在最佳实验条件下工作。一旦安装,通常需要对准两个不同的加速电
压,可按需要对准更多电压。更多的变更并不重要,用户可迅速作出优化和模式
切换,存储次数不限的对准结果。
Tecnai G2 30 配备LaB 发射器,显示极为接近物镜点分辨率的信息限度。图像信息
6
的离域因此会最大程度地减少,并且最终生成直接识别的图像。此外,LaB6 发射
主要优点
器可产生有益于低和中等放大倍数工作的更高总射束电流,并且对结合用于元素
• 高性能S/TEM 成像和分析
特定成像的能量过滤器特别有益,因为收集时间更短,信噪比更好。Tecnai G2 30
• 用于材料和生命科学应用的高分辨率多功
能工具 可按定制配置提供。各种对称物镜专利可用,并且所有物镜均具有独一无二的聚
• 灵活的高电压 焦性能,可精确满足不同应用的要求和需求:高分辨率工作(S-TWIN) 或超高分辨
• 借助完全嵌入式STEM、CCD 相机、EDX 探 ± °
率工作(U-TWIN) 以及高倾角应用 (断层摄影系列最高可达 75 )。此外,各种
测器、EELS 谱仪和能量过滤器实现的同步数
FEI 软件解决方案可用于不同的应用、校准、自动化、脚本编写和远程控制。
据记录
• 超洁净真空
• 各种可选的FEI 应用软件解决方案,如自动
化(A utogun, A utoAdj ust) 、放大倍数校准、
S/T EM 断层摄影软件包
2
产品数据Tecnai™ G 30
物镜类型
TWIN S-TWIN U-TWIN
TEM 点分辨率(nm) 0.24 0.20 0.17
TEM 线分辨
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