OH-QS-014外观检验规范.doc

分發部門： V 文管中心 V 業務部 管理部 V 品保部 財務部 V 製造部 V 資材部 V 工程部 修訂紀錄： 版序 頁次 章 節 修 訂 內 容 制 訂 初 核 核 准 日 期 A0 ----- -------- 新版發行 翟敬勇 胡志勇 尹宗華 2003.05.09 核 准 初 核 制 訂 翟敬勇 2003.05.09 發 行 章 流程圖 權責部門 流 程 作 業 （章節） 相關程序∕表單 品保 制造 IPQC IPQC NG IPQC IPQC IPQC IPQC NG 主旨：確保證製程品質,促使生產順利,滿足客戶需求。 目的： 制定標準規範，以為製程檢驗之依據，進而謀求產品水準一致及產品品質之穩定。 建立品質管制資料，迅速有效反應及分析改善，以做為製程作業監督之參考. 適用範圍：所有製程之 (封膠型),(不封膠型),( 背光型),( 側部發光型) 均適用此規格。 作業權責： 固晶與焊線 ( 站 )----------IPQC 採抽檢方式。 前 測 ( 站 )----------------- IPQC 採抽檢方式。 灌膠 (站)---------------IPQC採抽檢方式. 外 觀 ( 站 )----------------- IPQC 採抽檢方式。 後 測 ( 站 )----------------- IPQC 採抽檢方式。 以上製程------------------依情況採其它檢驗方式。 檢驗設備： 顯微鏡 鑷子 測試機台 拉力計 推力計 MODEL 2001 卡尺 電源供應器與測試棒 產品測試蓋板 MIL圖 不良樣品 三用表 LCD玻璃 抽樣計劃： 抽樣計劃係參考MIL-STD-105D LEVEL-II表，檢驗抽樣計劃表所列標準進行抽樣檢查。 判定係以累加較重缺點，依個別允收水準﹝AQL﹞判定結果；缺點類別及AQL值：“嚴重缺點”﹝0.25%﹞ ， “主要缺點”﹝0.65%﹞，“次要缺點”﹝1.0%﹞。 內 容： 外觀站檢驗規格。 外觀檢驗規格：( N/D,D/M,L/B,B/A型 )　　 項次 不良項目 內 容 說 明 使用工具 等級 1 資料不符 實際的材料與數量與流程單標示不符。 目視 主要 2 混料 依據流程單上型號混有兩種以上之產品。 目視 嚴重 3 毛邊 因切腳不良造成PIN腳底端毛邊大于PIN尺寸之上限。0.26MM行業標準. Mil圖 次要 4 長短腳 因切腳不良造成PIN腳長短超出公差範圍。 卡尺 次要 5 腳沾膠 PIN腳沾膠 10mil者。 mils圖 次要 6 沾錫不良 沾錫材料中任何PIN有不吃鍚者,或吃鍚不良者。 目視 主要 7 PIN不齊 PIN距不齊(PIN歪斜 PIN徑者),或彎曲不宜順利套PIN者 卡尺 主要 8 PIN受損 PIN破損,露及底材者。 目視 次要 9 PIN污染氣化 PIN因擺太久或處理不當造成污染氣化,或可能沾錫不良者。 目視 主要 10 PIN距不符 PIN距與成品規格不符或要求套pin之產品不能順利套下者。 卡尺 主要 11 多.缺腳 產品之PIN腳數與規格不符。 目視 主要 12 腳尺寸不符 產品之PIN尺寸與規格不符。 卡尺 主要 13 外觀尺寸不符 外圍,字節尺寸。 卡尺 主要 14 REF變形 REF 因烘烤不良或其它因素造成尺寸不符。 卡尺 主要 15 四周刮傷 REF四周滾墨因刮傷露出底色者.REF四周未滾墨而刮傷者。 mils圖 次要 16 表面刮傷 REF表面刮傷造成露出底色者 長10mils,寬 5mils。 mils圖 次要 17 REF彎曲 將材料反之字節朝下彎曲不可大於 L／200。 厚薄規 主要 18 未貼保護膜　 應貼保護膜而未貼保護膜者。　 目視 主要 外觀檢驗規格：( N/D,D/M,L/B,B/A型 )　　 項次 不良項目