第四章 光学系统特性参数检测.PPTVIP

* * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * 4.4.2 附加透镜法 三、误差分析 利用间接测量的误差传递公式，可得焦距测量的相对标准偏差为 ： ——约为0.002mm； ——约为0.005mm；用放大倍率法测正透镜焦距的测量标准偏差 ，可见测量焦距的主要误差来自正透镜焦距的测量误差。如改用精密测角法， ，则本方法的焦距测量误差与放大率法的基本相当。 4.4.3 附加接筒法 附加镜筒法是通过附加镜筒给出待检透镜两像面的准确位移量，由测量相应共轭面上的两个横向放大率，求得待检透镜的焦距。 y1 l′1 y2 l′2 e 4.4.3 附加接筒法 将待检透镜 拧到显微镜筒上，对目标物成像，在像距l′1时测得透镜的垂轴放大率为β1； y1 l′1 y2 l′2 e 4.4.3 附加接筒法 在待检透镜上加接长度为e的附加接筒，使像距变为l′1+e，测得垂轴放大率为β2， 两式相减得 y1 l′1 y2 l′2 e 二、测量装置和方法 附加接筒法测透镜焦距的装置比较简单，只需一台带测微目镜的显微镜、已知长度的附加接筒和一块格值为0.01mm，刻度范围为 1mm的玻璃刻尺。 先将待检透镜拧到显微镜的物镜筒上，通过对台面上的刻尺调焦，使其刻线像清晰地成在测微目镜的分划面上，测得y1（刻尺上n1格）对应的像y′1。求得垂轴放大率β1= y′1/(n1×0.01)。 取下待检 透镜 ，用长度为e的接筒装到显微镜筒上，再将待检透镜拧到接筒上，同样测得y2（刻尺上n2格）对应的像y′2，则垂轴放大率β2= y′2/(n2×0.01)。 可以算得待检透镜的焦距 ： 4.4.3 附加接筒法 三、误差分析 测量焦距的相对标准偏差 其中， 通常，σy=0.001mm， ，σe=0.01mm。 焦距测量误差随着y的增大而减小，但像高y′受测微目镜测量范围(8mm)限制，故该方法对低倍显微物镜 ，其测量误差要小些。 4.4.4 精密测角法 一、测量原理 在待检透镜焦面处放置分划板，若间隔为2y的分划，对待检透镜主点的张角为2ω，则待检透镜的焦距 f ′=y/tanω 刻线间隔2y已知，只要测准2ω角，即可算出待检透镜的焦距。 A B 2ω f′′ 2y 2ω 1、分划板 2、待测透镜 3、经纬仪 4.4.4 精密测角法 二、测量方法 先以自准直法，将分划面精确地调到待检透镜的焦面上。 在待检透镜前方调好经纬仪，并对分划AB调焦使分划像清晰地成在经纬仪的望远镜分划面上。 转动经纬仪，使望远镜的分划竖线对准分划A的像，读取度盘的第一次角度读数； 再转动经纬仪，使望远镜的分划竖线对准分划B的像，读取度盘的第二次角度读数； 两次读数之差即为所测角2ω值。带入公式，即可求出待检检透镜的焦距。 4.4.4 精密测角法 三、误差分析 焦距的相对标准偏差为： 为了减少轴外像差对测量结果的影响，通常2ω值不能选取的过大，对长焦距待检物镜2ω以取1°为宜。所以上式可简化为 经纬仪的测角标准偏差σω=1″；分划间隔AB的测量标准偏差σy=0.001mm； 当2ω=1°，且待测透镜像质优良且仪器调试准确时，σf′/f′仅为万分之五。 精密测角法一般不适于测量负透镜。 4.4.5 平面光学元件最小焦距的测量 理想的平面光学元件应为零光焦度。实际的平面光学元件由于存在工作面的面形偏差，玻璃材料的光学不均匀性 以及装配应力变形等，所以会产生很小的残余光焦度。习惯上称这个个残余光焦度为平面光学元件的“最小焦距”。 影响测量精度，产生附加视差。例如，一米基线测距仪其中央棱镜（反射镜）fmin≥1000米 ,端部棱镜：fmin≥2000米；航测相机及大地测量相机fmin≥（5000-10000）米。 自准直望远镜的目镜可沿轴向移动，并可读出移动量。当自准目镜的分划由零位F′T刚好移到 P处时 ，分划经望远物镜所成的像刚好位于待检件焦点F′处，于是由待检件射出的 平行光，经平面反射镜可按原路回来，