X射线衍射原理及应用.pptVIP

X射线原理及其应用;主要内容;1.1 X射线的产生及其性质 X射线是1985年德国物理学家伦琴在研究阴极射线是发现的，他的本质是一种电磁波，波长范围在0.001nm-1nm之间，大约与晶体中的原子间距是一个数量级。;1.1.1 X射线的产生 现在人们已经发现了许多的X射线产生机制， 其中最为实用的能获得有足够强度的X射线的方法仍是当年伦琴所采用的方法——用阴极射线（高速电子束）轰击阴极（靶）的表面。 ;1.1.1 X射线的产生（1）高速电子流轰击金属靶材获得X-ray（2）同步辐射X-ray当电子做曲线运动，并且被加速到足够的能量时，它便向轨迹的切线方向辐射X-ray波段范围的电磁波。;1.1.1 X射线的产生 当灯丝被通电加热至高温时（达2000℃），大量的热电子产生，在正负极之间的高电压作用下被加速，高速轰击到靶面上。 高速电子到达靶面，运动突然受阻，其动能部分转变为辐射能，以X射线的形式放出。轰击到靶面上电子束的总能量只有极小一部分转变为X射线能，而大部分都转变成为热能。;1.1.2 X射线的性质;1.1.2 X射线的性质;1.1.2 X射线的性质;1.1.2 X射线的性质;1.2 X射线谱分类;1.2.1 连续X射线谱; 连续谱的产生机理 带电粒子在加速（或减速） 时必伴随着辐射，而当带电 粒子与原子相碰撞，发生骤然减速时，由此伴随产生的辐射为韧致辐射，又称刹车辐射。由于在带电粒子到达靶子时，在靶核的库仑场的作用下带电粒子的速度是连续变化的，因此辐射的x射线具有连续谱的性质。 连续谱的最小波长与外加电压的关系（通过测量V和λ，可精确测量普朗克常数h） ;1.2.2标识谱; 在电子轰击阳极的过程中， 当某个具有足够能量的电子 将阳极靶原子的内层电子击 出时，低能级上出现空穴， 原子系统的能量升高，处于 激发状态，而激发态是不稳 定的，随后较高能级上的电 子向低能级上的空穴跃迁， 使原子的系统能量重新降低 而趋于稳定，这种跃迁将以 光子的形式辐射出标识X射 线谱。因此空穴的存在是产生标识辐射的先决条件，且 标识谱只与元素的原子序数Z有关。; 除了被散射和透射的一部分外，X射线将被物质吸收，吸收的实质是发生能量转换。这种能量转换主要包括光电效应和俄歇效应。; 当入射X光子的能量足够大时，还可以将原子内层电子击出使其成为光电子。若入射X射线的波长是单色，具有恒定的能量值，被击打出的光电子的能量?为： ? ＝ ?入射线的能量－ ?电子在原子核外所具有的能量 由于不同元素的核外电子具有不同的能量，因此，测定该光电子的能量就可以确定物质的化学成分。 （XPS原理） ; 被光电效应打掉了内层电子的原子将处于激发状态，当原子由激发状态转变为稳定状态时，和前面讲述的X射线产生的原理一样，将产生X射线，称之为二次X射线－－荧光辐射。 该X射线的波长，完全取决与物质中的原子类型，而与入射线的波长无关。 若测定该二次射线的波长，即可得到物质的化学组成。（XRF原理） ; 如果原子K层电子被击出，L层电子向K层跃迁，其能量差不是以产生K系X射线光量子的形式释放，而是被邻近电子所吸收，使这个电子受激发而逸出原子成为自由电子-----俄歇电子。这种现象叫做俄歇效应（俄歇电子谱仪AES专门分析这种电子的能量，从而获得物质的成分）。 ; 我们将光电效应，俄歇效应和热效应所消耗的那部分入射X射线能量称为物质对X射线的真吸收。可见，由于散射和真吸收过程的存在（主要是真吸收），与物质作用后入射X射线的能量强度将被衰减。 ; 用X射线衍射方法对高聚物进行结构分析，获得的信息远比低分子物质少得多。原因： （1）至今尚未培养出适合于x射线衍射用的0.1mm以上的单晶（生物高分子例外），因此常用单轴取向聚合物材料，用单晶回转法获取纤维图。但由此法试图得到的三维反射数据很困难，除非使用双轴取向样品或固态聚合产物。 （2）随衍射角增加，衍射斑点增宽，强度迅速下降。这是由于在聚合物样品中共存着晶区和非晶区，晶区仍包含无序部分，晶区微尺寸一般在800埃以内。 （3）随微晶取向不完善性的增加，在纤维图上衍射斑点渐增宽并成一个弧。 （4）可观察到独立反射点的数目是有限的（多者200，一般在40—100），而低分子单晶常多于1000.由于诸上原因，迄今，高聚物X射线结构分析，主要采用尝试法。然而今年来数种方法已被提出并获得成功。;二、X射线方法应用;2.1 X射线在医学上的应用 由于X射线的穿透性与物质密度有关，密度大的物质，对X射线的吸收多，透过少，利用该性质，可以把密度不同