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新世代场发射穿透式电子显微镜应用在工研院奈米检测-材料世界网
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2004 JEOL JEM-
2100F200kV
(0.19nm)OXFORD X
(EDS) GATAN (EELS) (High-Angle An-
nular Detector)(Scanning Image Observation Device)
(Digiscan Image Acquisition System)
JEOL JEM-2100F (FETEM) (EELS)
(High-Angle Annular Detector) (Scanning Image
Observation Device) (Digiscan Image Acquisition System)
(Nanometer) (Atomic
Scale)
.tw93 9 213 149
2004
(Transmission JEOL JEM-2100F
Electron Microscopy; TEM)
(1) 200kV
X (EDS)
(EELS)
(High-Angle Annular Detector)
(Scanning Image Observation Device)
Oak
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