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镀制工艺对TiO2光学膜层折射率影响研究
第29卷 第3期 真 空 科 学 与 技 术 学 报
2009年 5、6月 CHINESEJOURNALOFVACUUMSCIENCEANDTECHNOLOGY
镀制工艺对 TiO2光学膜层折射率影响研究
耿桂宏
(北方民族大学 银川 750021)
DepositionConditionsandRefractiveIndexofTiO2Films
GengGuihong
(&扣ngEthnicUniwersity,Yinchuan750021,Ch/na)
Abstract TheTi02filmsweregrownbyionbeam assisteddepositiononglasssubstrates.TheinfluenceoftheTi02
film growthconditions,includinghtesubstratetemperature,depositionrate,oxygenpartialpressure,and ionbeam assis—
tanee,ontherefractiveindexesofhtefilmsWas studide .Themicrostructuresofhtefilmswere characterizde wiht X—my
diffraction(XRD)andatomicforcemicroscopy(AFM).Theresultsshowthathtesubstratetemperature,depositionrate
andionbeam assistanceallstronglyaffecthteopticalpropertiesofhtefilms.Forexma ple.hterefractiveindexincreases
wiht na increaseofhtesubstratetemperature,nadmaximizesatallincreasingdepo sitionrate.Besides,hteionbema assis-
tancesignificnatlyenhanceshterefractiveindex.Th eTi02ma orphousfilmshavehig【hrefractiveindexbutlow opticalde—
pletion.
Keywords Ti02optical htinfiml ,Refractiveindex,Depositionprocesses
摘要 研究分析了基底温度、沉积速率、氧气分压、离子束辅助沉积等工艺参数和条件对rri02膜层折射率的影响。研究
表明,随着基底温度升高,T 光学膜层折射率呈上升趋势;随着沉积速率提高,ri02膜层折射率存在极值;采用离子束辅助沉
积工艺,可以有效提高 02膜层折射率值,所制备的Ti02膜为非晶态结构,具有较高的折射率和较小的光学损耗。
关键词 Ti02膜层 折射率 镀制工艺
中图分类号:O484 文献标识码:A doi:10.3969/j.issn.1672—7126.2009.03.10
TiO2薄膜坚硬而又抗化学腐蚀,在整个可见光 晶态和晶态两种结构2,晶态结构中,又包括锐钛
区和近红外光谱区都是透明的,并且有很高的折射 矿、金红石、板钛矿三种不同晶格结构。研究表
率值。所以在光学薄膜技术发展过程中,Ti02制备 明L3J,采用电子束蒸发制备 TiO2时,随着基底沉积
很早就被人们所重视。1965年出现了电子束加热 温度的变化,Ti02非常容易出现结晶现象(锐钛矿结
蒸发制备 TiO2薄膜技术,使蒸发各种氧化钛相的初 构)。多晶态Ti02薄膜与非晶态的TiO2相比,具有
始膜料特别是蒸发Ti:03等初始膜料制备TiO2薄膜 膜层折射率不稳定,散射损耗大等缺点,应当尽力避
成为可能。
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