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第六章　二階反應曲面法之實驗設計 6.1 二階反應曲面實驗設計簡介 6.2 二階反應曲面實驗設計1：中央合成設計 6.3 二階反應曲面實驗設計2：Box-Behnken設計 6.4 二階反應曲面實驗設計3：最佳化準則設計 6.5 二階反應曲面實驗設計4：隨機產生設計 6.6 二階反應曲面實驗設計之比較 6.1 二階反應曲面實驗設計簡介 二階近似函數有　　　　　 個參數，因此至少需　　 　 個設計點，且因有二次曲率項，所以因子至少要有三水準。如k= 2，3，4，5，6，7則至少需6，10，15，21，28，36個設計點。 二階反應曲面實驗可由一階反應曲面實驗擴充得到，以節省實驗成本。 本章將介紹四種二階反應曲面實驗設計： 中央合成設計 Box-Behnken設計 最佳化準則設計 隨機產生設計 　　　　　 二階反應曲面實驗設計1：中央合成設計 中央合成設計原理：估計係數變異之最小化 中央合成設計由下列三種實驗構成： 角點實驗：因為二階模型含二因子交互作用，因此須採解析度V以上之因子設計實驗。 軸點實驗：因為二階模型含二次曲率作用，因此在軸線上距中心點α處（二端）進行實驗。又為了使實驗設計具有可旋性，須令 　　，其中F為角點實驗之因子設計實驗數。 中心點實驗：因為要使中心點之預測變異合理化，因此要有重複實驗的中心點實驗。一般而言，重複實驗次數（nc）取3至5。 以2因子與3因子為例，其中央合成設計的實驗點分佈如下圖 例題6.1 二階模型實驗設計1：中央合成設計 　　　 延續例題5.4半導體晶圓問題，假設經過一階反應曲面法之參數優化過程後，得到一個最佳設計點，該點曲率效果顯著，故須改採二階反應曲面法之參數優化策略。此外為了滿足其它次要的品質特性需求，實驗時的反應變數多出二個。試以該點為中心點，以中央合成設計法作 實驗設計 模型建構 （1）實驗設計 例題5.4之一階模式實驗設計為具中心點實驗（ ）之因子實驗設計，故只要再增加軸點實驗，就可構成二階模式實驗設計之中央合成設計。軸點實驗的參數 實驗設計如下表第2-4行，實驗數據假設如下表第5-7行： （2）模型建構 中央合成設計性質：預測變異之分佈與可旋性 預測變異可用前章（5-6）式求得 可旋性是指預測變異Var 在距中心點等距處等值，這樣的分怖十分合理，是實驗者樂於看到的性質。中央合成設計具有可旋性或近似可旋性的性質。 中央合成設計變形：面心式中央合成設計 面心式中央合成設計是中央合成設計的變形，它將實驗分佈在立方體內，故軸點實驗是位在軸線上距中心點距離1處（二端）。當正規的中央合成設計之軸點實驗超過可行實驗範圍時，面心式中央合成設計是其替代方案。 中央合成設計區集：因子區集與軸區 二階實驗設計同樣也有區集設計問題，其設計要訣是將實驗分成因子區集與軸區集二部分。例如二因子二區集之設計如下： 三因子三區集之設計如下： 其它更複雜的區集設計可查表，如下表 6.3 二階反應曲面實驗設計2：Box-Behnken設計 Box-Behnken設計是除了中央合成設計外，另一種重要的二階反應曲面實驗設計，當因子數k為3至7時其設計如下： 中央合成設計與Box-Behnken設計之比較如下表所示，可以看出二者的實驗次數大致接近。 例題6.2 二階模型實驗設計2：Box-Behnken設計 　　　 延續例題6.1半導體晶圓問題，但改採Box-Behnken設計。試作 實驗設計 模型建構 （1）實驗設計 nc = 4，實驗設計如下表第2-4行，實驗數據假設如下表第五行（只以y1為例） （2）模型建構 反應變數y1之二階多項式迴歸分析結果如下： 6.4 二階反應曲面實驗設計3：最佳化準則設計 當實驗預算十分有限的情況下，前二節所提的方法可能都無法實施。例如五因子之二階實驗設計，假設中心點實驗重複次數5次，由表6-2知，至少要進行26＋5＝31次實驗。如果實驗預算只允許作25次實驗，這時需仰賴電腦依一定的準則來設計實驗。 本章前面曾提到二階函數有 個參數，因此至少需 個設計點，故k=5則至少需21個設計點。因此以25次實驗來建構二階反應曲面是可行的，它尚保存自由度25－21＝4之誤差方差估計能力。 反應曲面實驗設計的目的在於以最少的實驗次數