国立云林科技大学研究成果技术行销表.PDFVIP

國立雲林科技大學研究成果技術行銷表 技術名稱 基於低速取樣之高速數位類比轉換器測試方法 發明人 /單位 林俊偉、何承恩電子工程系/ 本發明提出一個測試數位類比轉換器的方法,其方法可運作 於低速取樣之環境,其將一待測之數位類比轉換器與一訊號 產生器輸出的訊號進行脈波寬度調變,並將調變後之訊號經 數位運算電路 ,形成數位訊號而構成一低速運作之等效類比 技術內容 數位轉換器 ,本發明提供均勻隨機分佈的測試圖樣給該訊號 產生器以產生一均勻隨機分佈的類比訊號給等效類比數位轉 器 ,藉以同時校正訊號產生器非理想性所造成之測試誤差,並 可讓待測電路以全速方式運作。 技術成熟度 □量 產 □試量產 ■雛型 □實驗階段 □概念 □其他 □資訊與通訊 ■電子與光電 □電子與光電 □材料化工與奈米 技術分類 □生技與醫藥□先進製造與系統□能源與環境 □食品製造業 □橡膠製品製造業 □金屬製品製造業 適用類別 ■電腦、電子產品及光學製品製造 業 □化學製品製造業 □橡膠製品製造業 □紙漿、紙及紙製品製造業 □機械設備製造業 □石油及煤製品製造業 □家具製造業 □紡織業□其他 在晶片量產階段，混合訊號自動測試設備乃是產業界通用之 測試平台，而對於自動測試設備頻寬之考量，以及利用軟體 實現複雜的訊號分析方法及測試指令集，都是提高自動測試 設備處裡晶片之能力所需面對之難題。因此，可以想見將來 的混合訊號自動測試設備成本，可能會成為整體積體電路製 造成本的主要因素。 本專利技術在於提供一內建自我測試之研究方法 ，使得高速 技術特色說明 或高解析度之數位類比轉換器藉由內建自我測試之設計，可 於較低階之混合訊號自動測試設備上完成測試流程，如此一 來，原有之高階自動測試設備則可以處裡更高階的晶片，使 得測試機台的效能間接獲得提升。 此演算法可以估測測試圖樣產生器的誤差量，並可用估測之 誤差量來校正輸入的測試圖樣，使得在測試類比數位轉換器 時可得到更精確的測試參數。 □專門技術知識 （Know-how ） □專利權： ■發明專利 (美國) 。 智慧財產權 □新型專利 。 □新式樣專利。 □其他 已公開之圖片