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Bi系铜氧化物射频介电性质的研究／冯双久等 ·15 · Bi系铜氧化物射频介电性质的研究 冯双久，张显 良，倪江利 (安徽大学物理与材料科学学院信息材料与器件重点实验室，合肥 230039) 摘要 测量了不同离子掺杂BizSt2CaCu2q 多晶样品的射频介 电常数，发现样品的介电常数存在明显差别， 分析认为这是由于离子掺杂改变了材料中的载流子浓度，导致材料的空间电荷极化差异所引起的。基于这种机制， 成功解释了不掺杂样品在 1700MHz附近的弛豫现象和不同样品损耗性质的差异。 关键词 电工材料 介电性质 Bi系铜氧化物 空间电荷极化 损耗角正切 中图分类号：TM201．4+4 RadioFrequencyDielectricPropertiesofBiBasedCuprates FENGShuangjiu，ZHANGXianliang，NIJiangli (KeyLaboratoryofInformationMaterialsandDevices，SchoolofPhysicsandMaterialsScience，AnhuiUniversity，Hefei230039) Abstract TheradiofrequencydielectricconstantofpolycrystallineBi-basedcuprateswithdifferentdopantions ismeasured．ItisfclundthatthedielectricconstantshoWSlargedifferenceamongsamples，whichcanbeattributedtO thedifferenceoftheinterfaeialpolarizationinsamplesduetOthechangesofcarrierdensitywithdoping．Basedonthis machanism，therelaxationphenomenathatfoundinBizSr2CaCu2()ysamplearound1700MHzandthelosstangent differenceofsamplesCna besuccessfullyexplained． Keywords electricmaterials，dielectricproperties，Bibasedcuprates，interracialpo larization，losstangent 研磨后将粉末放入坩埚中，于 780℃预烧结 3h，将预烧结样 0 引言 品粉碎再充分研磨 2h使其成细小粉体，利用压片机将粉体 Bi系铜氧化物作为一种最早发现的不含稀土的高温超 压成圆片样品，然后将压好的样品放人加热炉中于 830℃烧 导体系得到了深入研究，主要集中在微结构和超导电性研究 结 3h，所有烧结过程均在空气中进行。采用X射线衍射测 方面n ]。Bi系铜氧化物是高温超导材料中具有最明显各 量样品的结构，用 AV3691射频阻抗 ／材料分析仪测试材料 向异性的材料，结构上可以看作是具有纳米厚度的导电层与 的介电参数 ￡、e”，测试频率为50~1800MHz。 介电层沿C方 向堆垛而成 的典型准二维材料。对这类材料 2 结果与讨论 介电层介电性质的研究相对较少，主要集中在研究单晶材料 中载流子分布的不均匀性和金属绝缘体转变[6]。基于材料 X射线衍射结果表明，样品的主相为Bi2212相，没有发 的层状结构，已经提出了许多超导电子器件的设计方案[7,83， 现存在明显的杂相。图1为Pb掺杂Bi2212、纯Bi2212、Y