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与可靠性试验有关的几个问题 1. 第7章 可靠性试验 2. 基本的可靠性试验 3. 典型的IC测试和可靠性检查过程 4. 二次筛选中电子元器件的可靠性保障 5. 电子元器件的可靠性筛选 第7章?可靠性试验 ?p.149 7.1?可靠性试验的分类及内涵 p.149??7.1.1?可靠性试验的分类? p. 149??7.1.2?可靠性增长试验和失效分析试验?150??7.1.3?老炼试验和筛选试验 p.?150??7.1.4?模拟试验和现场试验? p.150??7.1.5?例行试验、质量一致性检验和可靠性验收试验?p.150??7.1.6?可靠性鉴定试验、可靠性定级试验和可靠性维持试验? p.1517.2?环境试验、机械试验和电磁试验的主要内容与目的[9]?151??7.2.1?环境试验?p. 151??7.2.2?机械试验? p.154??7.2.3?静电放电敏感度试验? p.156 3. 典型的IC测试和可靠性检查过程 下面简单介绍一下典型的测试和检查过程。需要说明的是，这里的描述非常通用，每 个具体产品都应该与特定的芯片制造商讨论，作出测试进程的详细描述，明确通过何种级 别筛选过的器件可以被接收。 (1)圆片测试(wafer sort) 圆片测试是对圆片上的每个管芯作简单的电学测试，不合格的