环状PIN 阵列测量全口径背向散射光空间分布的实验研究.PDFVIP

第 31 卷 第 1 期 核 聚 变 与 等 离 子 体 物 理 Vol.31, No.1 2 0 1 1 年 3 月 Nuclear Fusion and Plasma Physics March 2011 文章编号：0254−6086(2011)01−0043−05 环状 PIN 阵列测量全口径背向散射光 空间分布的实验研究 1, 2 1, 2 2 2 赵学峰 ，王传珂 ，况龙钰 ，王哲斌 ， 李三伟2 2 1 1, 2 ，刘慎业 ，蒋 刚 ，胡 峰 ( 1 . 四川大学原子与分子物理研究所，成都 610065; 2. 中国工程物理研究院激光聚变研究中心，绵阳 621900) 摘 要：基于由同心环状排布的多个 PIN 探测器组成的环状 PIN 阵列，发展了一种测量激光等离子体全口径 背向散射光空间分布的实验方法。采用该方法，在神光 Ⅱ装置激光与黑腔靶相互作用实验中，对全口径背向散射 光空间分布进行了测量，获得了全口径受激 Brillouin 散射背向散射光空间分布的图像。初步建立了全口径背向散 射光空间分布的测量方法。 关键词：激光等离子体；全口径背向散射；空间分布；受激Brillouin散射 + 中图分类号：TL62 7 文献标识码：A 1 引言 射成像系统(FABS)与近背向散射成像系统(NBI) 。 激光等离子体相互作用是惯性约束聚变(ICF) 其中，全口径背向散射成像系统采用激光打靶透镜 研究中的重要领域，激光散射是惯性约束聚变实验 收集激光与靶相互作用产生的散射光与入射激光 长期关心的问题之一[1, 2] 。因为散射不仅会增加入 束附近散射光的信息后，通过一分光器把散射光分 射激光的流失、降低靶的吸收，而且在间接驱动内 为 SBS 光(348~354nm)和 SRS 光(500~600nm)并分 爆实验中散射激光还会直接打击氘氚靶丸，影响内 别成像到光学相机上。近背向散射成像系统则由一 爆压缩，降低内爆效率，对内爆产生破坏作用。尤 环形收光盘对激光靶相互作用产生的散射光进行 其是激光等离子体的受激 Brillouin 散射(SBS)和受 收集反射，成像于靶室对面法兰口外放置的光学相 激 Raman 散射(SRS) ，降低了激光能量的吸收和激 机上。全口径背向散射成像系统配合近背向散射成 光等离子体的耦合效率，从而降低了辐射场的温 像系统可以获得直观的散射光角分布、空间分布图 度。通过测量散射光来研究受激散射的机制，找到 像和散射光时间光谱信息，并可以给出散射光能量 抑制 SBS 和 SRS 的方法，就能提高激光吸收效率 等物理信息[4~8] 。国内在神光 Ⅱ装置上已建立了全 [3] [9~11] ，通过这种方式可 及减少超热电子的产生 ，这对于实现激光聚变点 口径背向散射能量诊断系统 火和高增益聚变是非常重要的。 以给出散射光的能量份额，但无法给出散射光角分 美国国家点火装置(NIF ，192 束激光，激光能 布、空间分布等信息[9~12] 。目前，国内尚