基于PTM模型与BN模型的电路可靠性计算方法比较.pdfVIP

第42卷第6A期 计算机科学 V01．42No．6A 2015 Science June 2015年6月 Computer 基于PTM模型与BN模型的电路可靠性计算方法比较 蒋玉芳1邓左祥2 (广西现代职业技术学院建筑与信息工程系 河池547000)1 (上海交通大学电子信息与电气工程学院 上海200240)2 摘要现代工艺的发展使得集成电路在获得高性能的同时，也更容易受到软差错的影响。针对软差错影响下电路 的可靠性问题，选取了二种典型的基于条件概率理论的门级评估方法：BN方法和PTM方法，分别介绍了其原理，并 结合实验分析了它们各自的功能、适用范围以及复杂度，且指出了下一步的研究思路。 关键词BN方法，PTM方法，基本门电路，电路可靠性 中图法分类号TP311 文献标识码A BasedPTM BNModel ofCircuit CalculationMethodsOil Modeland ComparisonReliability DENG JIANG Zuo-xian92 Yu-fan91 andInformation ModemVocational ofConstruction (Department Engineering，Guangxi 547000，China)1 TechnologyCollege，Hechi (SchoolofElectronicInformationandElectrical JiaoTongUniversity，Shanghai200240，China)2 Engineering，Shanghai The VLSI resultsinthedramatical ofthe of Abstract of integrated developmenttechnology improvementperformance becomemore tOsofterrors．Forthe ofcircuitsunderthesofter— circuits，and circuits integrated susceptible reliability PTM andBNmehod ror，two estimationmethodsbasedontheconditinal method typical probability，named gate-level inthis ofthetwomethodswere th