天线指向微调机构寿命分析及试验验证-易迪拓培训
航天器环境工程 第29卷第3期
308 SPACECRAFTENVlRC小琢IENTENGINEERING 2012年6月
天线指向微调机构寿命分析及试验验证
于新战,万小平,王辉,王波
(空间电子信息技术研究院,西安710000)
摘要:考虑到各种环境因素可能对天线波束指向产生影响以及星载天线在轨服务区重置的需求,越来越多
的星载天线要求具有在轨指向微调功能。文章针对一种天线微调机构,利用磨损程度评估技术开展了其寿命预
估,同时使用加速寿命试验完成了其寿命试验考核工作。
关键词:天线;指向微调机构;寿命分析;寿命试验
中图分类号:V443+.4:V416.5 文献标识码:A
DOI:10.3969/j.issn.1673-1379.2012.03.014
O引言 为了实现APM在轨可靠运动,必须在地面对
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