电子科技大学电子技术试验基础大一下叠加定理.docVIP

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  • 2017-07-05 发布于重庆
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电子科技大学电子技术试验基础大一下叠加定理.doc

电子科技大学电子技术试验基础大一下叠加定理

实验4.4 叠加定理的验证 实验名称:叠加定理的验证 实验目的:掌握Multisim的使用方法;加深对叠加定理的理解。 实验原理与方案:(见下图) I1=100mA U1=99.99V I2=33.33mA U2=33.33V I3=66.67mA U3=66.66V 得到I1=I2+I3 且U1=U2+U3,叠加定理得证。 实验4.10 RCL串联谐振电路 实验目的:1.进一步理解谐振电路的谐振特点。 2.掌握谐振频率、品质因数的测试方法。 3.掌握串联谐振电路频率特性的测试方法。 实验原理:1.RCL串联谐振电路的条件。 含有电阻电容和电感原件的单口网络,在某些工作频率上,出现端口电压和电流波形相位相同的情况时,称电路发生谐振。 2.RCL串联电路的谐振特性 (1)谐振时,RCL串联回路的输入阻抗为纯电阻,激励电压与回路电压同相,电阻电压与电源电压相等且同相。 (2)谐振时,电感上的电压与电容上的电压幅值相等且反相,若品质因数Q1,则谐振时,电容、电感电压是激励电压的Q倍,可实现放大。 实验

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