第一章电磁辐射与结构介绍.ppt

* 固体能带结构的基本类型（示意图） （a）绝缘体 （b）本征半导体 （c）导体 （d）导体 * * * (100) (001) (001) (111) (110) 常见晶面的Miller指数 Modern material analysis methods * (100) a/2 a/4 (200) (400) 原点 110 220 440 原点 Modern material analysis methods * 1. h,k,l三个数分别对应于a,b,c三晶轴方向。 2. 其中某一数为“0”，表示晶面与相应的晶轴平行，例如(hk0)晶面平行于c轴；(h00)平行于b,c轴。 3. (hkl）中括号代表一组互相平行、面间距相等的晶面。? 4. 晶面指数不允许有公约数，即hkl三个数互质。 5. 若某晶面与晶轴相截在负方向，则相应指数上加一横。 对晶面指数的说明 Modern material analysis methods * a c b （3）六方晶系晶向指数与晶面指数 Modern material analysis methods * 三坐标系 四轴坐标系 a1，a2，c a1，a2，a3，c 120° 120° 120° Modern material analysis methods * 六方晶系中任一晶向可表示为 已知 Modern material analysis methods * 或 例如 Modern material analysis methods * 5.干涉指数 若仅考虑晶面的空间方位，则A1，B1，A2，B2，…与A1，A2，A3，…一样，均以晶面指数（010）标识，但若进一步考虑二者晶面间距之不同，则可分别用（010）和（020）标识，此即为干涉指数。 （010）与（020）面（干涉指数引例） Modern material analysis methods * 干涉指数是对晶面空间方位与晶面间距的标识。（晶面指数只标识晶面的空间方位。） 干涉指数与晶面指数的关系： 若将（hkl）晶面间距记为dhkl，则晶面间距为dhkl／n（n为正整数）的晶面干涉指数为（nh nk nl），记为（HKL），dhkl／n则记为dHKL。 例如晶面间距分别为d110／2，d110/3的晶面，其干涉指数分别为（220）和（330）。 干涉指数表示的晶面并不一定是晶体中的真实原子面，即干涉指数表示的晶面上不一定有原子分布。 Modern material analysis methods * 在晶体对入射波发生衍射的时候，衍射图谱、衍射波的波矢量、产生衍射的晶面三者之间存在严格的对应关系。例如在电子衍射花样中，每一个衍射斑点是由一支衍射波造成的，而该衍射波是一组特定取向的晶面对入射波衍射的结果，反映该组晶面的取向和面间距。 二、倒易点阵 Modern material analysis methods * 为了研究衍射波的特性，1921年德国物理学家厄瓦尔德(P．P．Ewald)引入了倒易点阵的概念。 倒易点阵是相对于正空间中的晶体点阵而言的，它是衍射波的方向与强度在空间的分布。 由于衍射波是由正空间中的晶体点阵与入射波作用形成的，正空间中的一组平行晶面就可以用倒空间中的一个矢量或阵点来表示。 用倒易点阵处理衍射问题时，能使几何概念更清楚，数学推理简化。可以简单地想象，每一幅单晶的衍射花样就是倒易点阵在该花样平面上的投影。 Modern material analysis methods * 1. 倒易点阵的定义 倒易点阵是由晶体点阵按照一定的对应关系建立的空间（几何）点（的）阵（列），此对应关系可称为倒易变换。 定义：对于一个由点阵基矢ai（i=1，2，3，应用中常记为a、b、c）定义的点阵（可称正点阵），若有另一个由点阵基矢a*j（j=1，2，3，可记为a*，b*，c*）定义的点阵，满足 （1-41） 则称由a*j定义的点阵为ai定义的点阵的倒易点阵。 Modern material analysis methods * 多数情况下取K=1，有时取K=?（入射波长）或K=2?。 将其分项写出，有 （1-42） Modern material analysis methods * 2. 倒易点阵基矢表达式 由式（1-42）可导出由ai（i=1，2，3）表达a*j（j=1，2，3）的关系式，即 a*1=(a2×a3)/[a1·(a2×a3)]=(a2×a3)/V a*2=(a3